フィルム上のシリコーン付着量の高精度測定
何がわかるのか？
シリコーン膜は粘着テープや、液晶画面の保護用フィルム、電子部品のグリーンシート、医療・衛生用テープ、食品ラベルなどの幅広い分野で利用されています。
いずれの用途においても品質管理のため、シリコーン膜の付着量を管理する必要があります。また、シリコーン膜の付着量は、近年益々小さくなる傾向にあり、高感度、高精度化が求められています。
波長分散方式卓上型蛍光Ｘ線分析装置(WD-XRF)は、従来の非分散方式に比べて、シリコーン膜およびシリカ膜の付着量測定の検出限界が大幅に改善され、低付着量での精密な管理分析が可能となりました。WD-XRFは非破壊分析法のため、フィルムをホルダにセットするだけで簡単に測定できます。
いずれの用途においても品質管理のため、シリコーン膜の付着量を管理する必要があります。また、シリコーン膜の付着量は、近年益々小さくなる傾向にあり、高感度、高精度化が求められています。
波長分散方式卓上型蛍光Ｘ線分析装置(WD-XRF)は、従来の非分散方式に比べて、シリコーン膜およびシリカ膜の付着量測定の検出限界が大幅に改善され、低付着量での精密な管理分析が可能となりました。WD-XRFは非破壊分析法のため、フィルムをホルダにセットするだけで簡単に測定できます。
測定・解析例
代表的な試料モデルとその用途を以下に示します。 ポリマーフィルムまたは紙上にシリコーンまたはシリカをコーティングした試料に一次X線を照射し、膜に含まれるSiからの蛍光X線強度を測定することで、シリコーンやシリカ膜の付着量を求めます。図1にMini-Z Si Analyzerのシリコーン付着量の検量線を、また代表的な試料の繰り返し測定結果を表1に示します。 重元素領域の定性分析結果を図1に示します。（試料：CRM035-50） 0.9ppm程度の水銀：Hg（図1左下）や6ppm程度のカドミウム：Cd（図1右下）も明確にピークとして検出されました。
図1 シリコーン付着量の検量線
表1 繰り返し測定結果
測定回数 |
0.046 g/m2 |
1 |
0.0460 |
2 |
0.0463 |
3 |
0.0460 |
4 |
0.0463 |
5 |
0.0462 |
6 |
0.0458 |
7 |
0.0461 |
8 |
0.0456 |
9 |
0.0459 |
10 |
0.0460 |
平均値 (g/m2) |
0.0460 |
標準偏差 (g/m2) |
0.0002 |
変動計数 (CV%) |
0.48% |
