ホームアプリケーション > 蛍光X線分析アプリケーションレポートご請求コーナー

蛍光X線分析アプリケーションレポートご請求コーナー


現在ご利用いただけるアプリケーションレポートは以下の通りです。
ご希望のアプリケーションレポートがございましたら、リストの左端にあるチェックボックスにチェックを付け、「次へ」ボタンより入力フォームへ進み、お勤め先、ご所属、お名前、E-mailアドレス、ご住所、電話番号を明記の上、送信してください。

アプリケーションレポート タイトルリスト

 走査型蛍光X線分析装置(ZSXシリーズ)

No.
タイトル
適用装置
キーワード
XRF1029
ZSX Primusシリーズ/アプリケーションパッケージによるポリマー中の添加剤元素の定量分析
ZSX Primus series
ポリマー、ポリエチレン、プラスチック、添加剤成分、添加剤元素、アプリケーションパッケージ
XRF183
ZSX400によるシリコンウェーハ上のTi膜の膜厚測定
ZSX400
半導体デバイス、Siウェーハ、Ti、膜厚測定
XRF182
ZSX400による回折線除去の原理とその効果
ZSX400
Siウェーハ、単結晶、1次X線フィルタ、回折線、マッピング、300mmウェーハ
XRF179
オーダ分析を進化させたSQX(Scan Quant X)分析の原理と応用
ZSX PrimusII
ZSX Primus
SQX分析、半定量分析、ファンダメンタルパラメータ法、スタンダードレス分析、感度ライブラリ、形状補正
XRF173
TiO2粉末中の微量Pb分析
ZSX100e
ZSX101e
SQX分析、定角測定モード、微量成分分析
XRF170
定角測定モード搭載のSQX分析
ZSX100e
ZSX101e
SQX分析、定角測定モード、微量成分分析
XRF169
チップ状切削屑の鋼種判別
ZSX100e
ZSX101e
CCDポイント分析、SQX分析、鋼種判別
XRF160
ZSX101eによる潤滑油中の元素分析
ZSX101e
潤滑油、添加剤、摩耗粉、正確度、検出限界、繰り返し精度
XRF154
下水汚泥・堆積物中の公害元素の定量分析
ZSX100e
下水汚泥、堆積物、産業廃棄物、環境試料、有機物コンプトン散乱線モニタ法、バックグラウンドレシオ法、散乱線補正、理論マトリックス補正
XRF153
紙上異物のCCDポイント分析
ZSX100e
ZSX101e
CCDカメラ+試料ステージ、測定位置指定、ポイント定性分析、チャージアップ、軽元素
XRF152
花崗岩のCCDマッピング分析
ZSX100e
ZSX101e
CCDカメラ+試料ステージ、測定位置指定、ポイント定性分析、マッピング分析、岩石
XRF151
風化した堆積岩の分析
ZSX100e
ZSX101e
CCDカメラ+試料ステージ、測定位置指定、ポイント定性分析、マッピング分析、岩石
XRF150
溶結凝灰岩レンズ部の半定量分析
ZSX100e
ZSX101e
CCDカメラ+試料ステージ、測定位置指定、ポイント定性分析、半定量分析、岩石
XRF149
塗膜中異物のCCDポイント分析
ZSX100e
ZSX101e
CCDカメラ+試料ステージ、測定位置指定、ポイント定性分析、マッピング分析、チャージアップ


 波長分散小型蛍光X線分析装置(Supermini, ZSXmini)

No.
タイトル
適用装置
キーワード
XRF1036
Supermini200/残分推定機能を持つSQX散乱線FP法によるスクリーニング分析
Supermini200
SQX分析、SQX散乱線FP法、卓上型XRF
XRF211
波長分散小型蛍光X線分析装置 Primini Biofuelによるバイオディーゼル燃料中のP、S及びClの分析
Primini Biofuel
波長分散(WDX)、バイオディーゼル、FAME、B100、含酸素率、リン(P)、硫黄(S)、塩素(Cl)
XRF210
波長分散小型蛍光X線分析装置 Primini Biofuelによるバイオガソリン中のS分析
Primini Biofuel
波長分散(WDX)、バイオガソリン、ETBE、含酸素率、硫黄(S)、品確法
XRF209
波長分散小型蛍光X線分析装置 Primini Biofuelによる燃料油中のP、S及びClの分析
Primini Biofuel
波長分散(WDX)、燃料油、C/H比、リン(P)、硫黄(S)、塩素(Cl)、バイオディーゼル(BDF)、バイオエタノール
XRF208
WDX小型蛍光X線分析装置SuperminiによるFP定量法を用いたガソリン中のS、Cl、Mn、Feの分析
Supermini
波長分散(WDX)、揮発油(ガソリン)、ファンダメンタル・パラメーター(FP)法、スタンダードレス分析、検量線法、硫黄(S)、塩素(Cl)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)、品確法、ASTM D2622
XRF207
波長分散小型蛍光X線分析装置Primini ASTM規格(C114)に基づくポルトランドセメント粉末試料の分析
Primini
波長分散(WDX)、ポルトランドセメント、ASTM C114
XRF206
WDX小型蛍光X線分析装置Superminiによる揮発油(ガソリン)中のS、Cl、Mn、Feの分析
Supermini
波長分散、WDX、揮発油(ガソリン)、硫黄(S)、塩素(Cl)、マンガン(Mn)、鉄(Fe)、品確法
XRF197
ASTM規格(C114)に基づくガラスビード法によるセメントの分析
Supermini
波長分散、WDX、ポルトランドセメント、ASTM、C114、NIST
XRF196
ポルトランドセメント粉末試料の分析
Supermini
波長分散、WDX、ポルトランドセメント、ASTM、C114、NIST
XRF174
サーマルリサイクル燃料の分析例
ZSXmini
RDF、粉末試料、SQX分析
XRF148
ポルトランドセメントの定量分析
ZSXmini
卓上型波長分散、Pdターゲット小型X線管、ポルトランドセメント、検量線法、省スペース


 エネルギー分散型蛍光X線分析装置

No.
タイトル
適用装置
キーワード
XRF3021
NEX QCによる軽油中の硫黄(S)の分析
NEX QC
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、軽油、ディーゼル油、硫黄
XRF3020
NEX QCによる原油・重油中の硫黄(S)の分析
NEX QC
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、原油、重油、硫黄
XRF3009
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QCによる紙・プラスチック上のシリコーン付着量測定
NEX QC
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、シリコーン付着量
XRF3006
EDXL 300による銅合金の分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、偏光光学系、SDD、銅合金、異材判別、高ピーク・バックグラウンド比
XRF3005
EDXL 300による歯科材料(貴金属)の分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、偏光光学系、SDD、歯科材料、貴金属、異形試料、高ピーク・バックグラウンド比
XRF3002
EDXL 300による化粧品(ファンデーション)の分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、SDD、化粧品、ファンデーション
XRF212
ウェーハ上の薄膜の分析
NEX CG
EDXL 300
Siウェーハ、半導体デバイス、PSG膜、膜厚・組成分析、多層膜、蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、SDD、高SN比
XRF205
ガソリン中の微量鉛(Pb)分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、SDD、ガソリン、オクタン価向上剤、微量鉛(Pb)、アルキル鉛、四エチル鉛、四メチル鉛、高SN比
XRF203
塗料の分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、SDD、塗料、顔料、溶剤、添加物、高SN比
XRF201
微少量触媒中の低濃度Rhの分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、SDD、液体窒素不要、自動車触媒、貴金属分析、リサイクル
XRF200
ウルトラキャリーを用いた尿中の砒素(As)分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、SDD、液体窒素不要、尿、砒素、高S/N比、ウルトラキャリー、ウルトラドライ
XRF199
尿中の砒素(As)分析
NEX CG
EDXL 300
蛍光X線、元素分析、エネルギー分散、EDX、2次ターゲット、SDD、液体窒素不要、尿、砒素、リン、高S/N比
XRF192
EDXL 300による汚染土壌中の有害元素の分析
NEX CG
EDXL 300
エネルギー分散、SDD、土壌、汚染土壌、有害元素、高S/N比
XRF191
EDXL 300による溶液の分析
NEX CG
EDXL 300
エネルギー分散、SDD、卓上型、水溶液、重金属、環境、リサイクル、高S/N比
XRF190
EDXL 300によるオイルの分析
NEX CG
EDXL 300
エネルギー分散、SDD、卓上型、軽油、重油、バイオ燃料、潤滑油、高S/N比


 多元素同時型蛍光X線分析装置(Simultix)

No.
タイトル
適用装置
キーワード
XRF176
Ti合金の定量分析
Simultix12
V専用ゴニオ、自動検量線選択


 その他

No.
タイトル
適用装置
キーワード
XRF198
Mini-Z Si Analyzerによる銑鉄中のSi分析
Mini-Z Sulfur Analyzer
卓上型、波長分散、Si分析計
XRF186
Mini-Z Sulfur Analyzerによる軽油、ガソリン中の低濃度硫黄分の分析
Mini-Z Sulfur Analyzer
波長分散、ガソリン、軽油、サルファーフリー、硫黄分、卓上型
XRF181
Mini-Z Zr Analyzerによるジルコニウム系化成皮膜付着量の測定
Mini-Z Zr Analyzer
波長分散、アルミ缶、ジルコニウム系化成皮膜、卓上型
XRF180
Mini-Z Si Analyzerによるシリコーン付着量の測定
Mini-Z Si Analyzer
波長分散、シリコーン膜、シリカ膜、Si付着量、卓上型
XRF178
高感度点滴濾紙を用いた水溶液中のF,Bの分析
ウルトラキャリー
ウルトラキャリー、高感度点滴法、水溶液、B
XRF177
高感度点滴濾紙を用いた水溶液中の微量元素の分析
ウルトラキャリー
ウルトラキャリー、高感度点滴法、水溶液、微量分析
XRF172
電線被覆材料中のカドミウム“Cd”分析
電線被覆材分析専用装置
線被覆材、カドミウム、有害重金属元素分析、LLD=2ppm、波長分散型


 過去のレポート

No.
タイトル
適用装置
キーワード
XRF140
薄膜評価用蛍光X線分析装置の回折線回避機能について
薄膜評価用
Siウェハ、回折線、X-Y-θ駆動ステージ、r-θ駆動ステージ、回折線回避
XRF138
サイマル10/11を用いた蛍光X線分析法によるステンレス鋼の分析
Simultix10/11
検量線法、マトリックス補正、JISG1256、金属組織の影響、表面研磨
XRF137
サイマル10/11を用いたFP法による高合金鋼の分析
Simultix10/11
耐熱鋼、ステンレス鋼、分析精度、正確度、測定条件
XRF135
ポリシリコン膜中のボロン濃度分析
3272
ポリシリコン、ボロン、ボロンドープポリシリコン、組成分析、膜厚分析、FP法
XRF134
理学/ミニXによる各種コーティング膜の付着量分析
3677
3678
亜鉛メッキ、クロメート皮膜、ポリ塩化ビニリデン膜、シリコーン膜
XRF133
蛍光X線分析法によるオイル中の微量成分の分析
RIX3001
オイル、微量成分、液体法(Ni、V、Cl)、固化法(Na)
XRF132
理学/サイマルティックス10/11を用いた鋼中の炭素,ホウ素の分析
Simultix10/11
APC、人工累積膜、超軽元素、低炭素鋼、鋳鉄、ステンレス
XRF131
ガラスビード法による岩石の主成分と微量分析
RIX2000
岩石、ガラスビード法、低希釈率、主成分と微量成分
XRF130
サイマルティックス10/11用バックグラウンド測定機能付き固定型ゴニオメーターについて
Simultix10/11
微量分析、測定原理、ステンレス、セメント、鉄鉱石
XRF129
新機能を搭載したオーダ分析
RIX3000
オーダ(SQX)分析、個別ライブラリ(マッチングライブラリ)、各種補正
XRF128
蛍光X線分析法における複雑な形状の微小試料の面積補正による定量分析
RIX2000
微小試料、面積補正曲線、複雑形状
XRF127
RIX1000による微小試料の面積補正による定量分析
RIX1000
微小試料、面積補正曲線
XRF126
蛍光X線分析法によるABS樹脂の分析−全成分の半定量及び難燃剤の定量分析
RIX1000
ABS樹脂、オーダ(SQX)分析、難燃剤の定量分析、検量線法
XRF125
蛍光X線分析法によるシリコンウェハー上の各種金属膜の膜厚測定
3630
膜厚測定、Al-Si-Cu膜、W膜、Ti膜、Ti-W膜、Pt膜、Au膜
XRF124
蛍光X線分析法によるシリコンウェハー上の薄いBPSG膜の膜厚・組成分析
3630
薄いBPSG膜、膜厚組成分析、FP法、、SiLα線、バックグラウンド補正
XRF123
RIX1000による銅合金の定量分析
RIX1000
銅合金、NIST標準試料、旋盤仕上げ、検量線法、正確度、マトリクス補正
XRF122
RIX1000による重油中のS,V,Niの定量分析
RIX1000
重油、S、V、Ni、溶液法、検量線法、検出限界、繰り返し精度
XRF121
RIX1000による潤滑油中の添加剤及び金属摩耗粉の分析
RIX1000
潤滑油、添加成分、金属摩耗粉、固化法、検量線法、オーダ(SQX)分析
XRF120
蛍光X線分析法による弾性表面波素子(SAW)の膜厚測定
3630
弾性表面波、SAW、Al膜、膜厚分析、膜厚組成分析
XRF119
蛍光X線分析法によるポリシリコン中のリン濃度分析
3630
ポリシリコン、リン、リンドープポリシリコン、組成分析、膜厚分析、FP法
XRF118
FP法による油性殺虫剤中のP,Sのオーダー分析
RIX2000
油性殺虫剤、オーダ(SQX)分析、セルロースに含侵
XRF117
視野制限スリットの効果
RIX3000
視野制限スリット、低合金鋼、検量線法、S/N、正確度、繰り返し精度、検出限界
XRF116
FP法による貴金属溶液の定量分析
RIX2000
貴金属溶液、点滴ろ紙法、Pt、Au、Pd、Rh、Ir、Ru、グループ定量、フリー(ライブラリ)定量
XRF115
FP法による微小量ガラス粉末の定量分析
RIX2000
微少量ガラス、数十mg、薄膜FP法、フィルタ、ライブラリを用いた定量分析
XRF114
サルファーXによる灯油,ガソリン,軽油中の硫黄分の定量分析
3670TA
C/H補正、FP法、低硫黄分、硫黄分、灯油、ガソリン、軽油
XRF112
RIX1000による金メッキ液の定量分析
RIX1000
金メッキ液、点滴ろ紙、Au、透過率、検量線法、検出限界
XRF111
RIX1000による軟膏中のヨードの定量分析
RIX1000
軟膏中のヨード、点滴ろ紙、真空測定、検量線法
XRF110
石油触媒の定量分析
RIX2000
石油触媒、再生ゼオライト、V、Ni、Na、Sb、Fe、V、CrX線管、検量線法、繰り返し精度
XRF109
RIX1000による分光結晶PETとRX-4の感度比較
RIX1000
分光結晶の感度比較、検出限界、検量線法
XRF107
RIX1000による粒状塩化ビニルの定量分析
RIX1000
塩化ビニル、粒状、FPグループ定量
XRF106
RIX1000による貴金属溶液の定量分析
RIX1000
貴金属溶液、点滴ろ紙法、X線管比較、検量線法
XRF105
RIX1000による貴金属溶液の濾紙点滴法と溶液法による分析
RIX1000
貴金属溶液、点滴ろ紙法、溶液法、検量線法
XRF103
蛍光X線分析法によるグリース中の金属摩耗粉の分析
RIX1000
グリス、金属摩耗粉、少量試料、検量線法
XRF102
RIX1000による岩石のオーダー分析
RIX1000
岩石、オーダ(SQX)分析、ガラスビード法
XRF101
RIX1000による自動車排ガス捕集物質の分析
RIX1000
自動車排ガス補集物質、オーダ(SQX)分析、粉末法
XRF100
RIX1000による火山灰のオーダー分析
RIX1000
火山灰、オーダ(SQX)分析、粉末法
XRF99
RIX1000によるボーキサイトのオーダー分析
RIX1000
焼成ボーキサイト、オーダ(SQX)分析、ガラスビード法
XRF98
RIX1000による耐火レンガのオーダー分析
RIX1000
耐火れんが、オーダ(SQX)分析、粉末法
XRF97
RIX1000による長石のオーダー分析
RIX1000
長石、オーダ(SQX)分析、ガラスビード法、WDとED
XRF96
RIX1000による銅合金中の微量成分の分析
RIX1000
銅合金、微量成分、検出限界、Al、P、Ti、Mn、Fe、Ni、Zn、Sn、Pb
XRF95
RIX1000によるアルミニウム青銅の定量分析
RIX1000
アルミニウム青銅、検量線法、Al、Cu、Zn、Sn、Pb
XRF94
RIX1000によるアルミニウム合金の定量分析
RIX1000
アルミニウム合金、検量線法、Mg、Si、Ti、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Sn、Pb
XRF93
RIX1000による自動車触媒中のPt、Pd、Rhの定量分析
RIX1000
自動車触媒、検量線法、Pt、Rh、Pd、検出限界、粉末法
XRF92
RIX1000によるポリマー中のMg,Caの定量分析
RIX1000
ポリマー、検量線法、Mg、Ca、検出限界
XRF90
RIX1000による磁性膜の膜厚・組成分析
RIX1000
磁性膜、ライブラリ定量、Ge、Te、Sb
XRF89
RIX1000によるITO膜の膜厚・組成分析
RIX1000
ITO膜、ライブラリ定量、Sn、In
XRF88
RIX1000によるPSG膜中のP2O5の組成分析
RIX1000
PSG膜、FPグループ定量
XRF87
RIX1000によるアルミニウム板上のクロム付着量分析
RIX1000
検量線法、Cr付着量
XRF86
RIX1000による鉄板表面処理膜の付着量分析
RIX1000
鉄板表面処理膜、検量線法、Ni,P,Siの測定
XRF85
RIX1000によるポリエステルシート上のシリコーン付着量分析
RIX1000
ポリエステルシート、検量線法、シリコーン付着量
XRF84
ガラス原料中のBの定量分析
RIX3000
ガラス、B、オーダ(SQX)分析
XRF83
FP法による環境試料の分析
RIX3000
ペパーブッシュ、茶葉、オーダ(SQX)分析、FPグループ定量
XRF82
RIX3000によるベリリウムの測定
RIX3000
ベリリウム銅、検出限界
XRF81
シリコンウェハー上の二層膜(Si3N4/SiO2)の膜厚測定
3272
Si3N4膜、SiO2膜、膜厚測定、FP法、感度ライブラリ、2層膜
XRF80
蛍光X線分析法に於けるネット強度算出法の検討
RIX3000
ネット強度算出法、重なり補正係数算出、オーダ(SQX)分析
XRF79
タングステンシリサイドの膜厚・組成比の同時分析
3620
WSix膜、Siウェハ、FP法、専用固定分光器
XRF78
シリコンウェハー上のBPSG薄膜の膜厚・組成分析
3630
BPSG膜、膜厚組成分析、FP法、繰り返し再現性、出し入れ再現性、長期安定度
XRF76
RIX3000による高速度鋼の迅速分析
RIX3000
高速度鋼、高速定性、オーダ(SQX)分析
XRF75
蛍光X線によるセラミックス中の微量酸素の定量
3270
セラミックス、O分析の分光結晶(TAP、RX35、RX40)
XRF74
多元素同時型蛍光X線分析装置におけるリン分析用分光素子
3550
RX6とGeの比較、銅合金酸化鉄
XRF73
蛍光X線分析法による廃棄物中のウラニウム、トリウムの分析
3270
廃棄物、オーダ(SQX)分析、検出限界、精度、ウラニウム、トリウム
XRF72
蛍光X線分析法によるウラン鉱石の分析
3070シリーズ
ウラン鉱石、ウラニウム、トリウム、コンプトン散乱線補正、繰り返し精度、検出限界
XRF71
蛍光X線分析法によるセメント中の微量マグネシウムの分析
走査型装置一般
同時型装置一般
セメント、Mg分析の分光結晶(ADP、TAP、RX35)、正確度、検出限界
XRF70
蛍光X線分析法によるポリエチレンテレフタレート(PET)板のオーダ分析
RIX3000
PET板、単層膜オーダ分析
XRF69
ガラスビードの希釈率補正
3270
ガラスビード法、セメント、希釈率補正
XRF68
ファンダメンタルパラメーター法によるアルミ合金及びステンレス鋼の定量分析
3270
オーダ(SQX)分析、フリー定量(ライブラリを用いた定量)、グループ定量、アルミニウム合金、ステンレス鋼
XRF67
ファンダメンタルパラメーター法によるポリマー中の副材料の定量分析
3270
FPグループ定量、ポリマー(高分子)、充填剤、難燃剤
XRF66
蛍光X線によるシリコンウェハーの酸化膜測定
3270
シリコンウェハ、酸化膜、SiO2、OKα線、SiKα線、膜厚分析、組成分析
XRF65
蛍光X線分析におけるオーダ分析の原理と応用
3270
オーダ分析の原理、異形試料、希土類を含む試料
XRF64
ナトリウムの重なり補正
走査型装置一般
スペクトルの重なり、補正係数
XRF63
クロムマグネシア系煉瓦の蛍光X線による定量分析
走査型装置一般
クロムマグネシウム煉瓦、ガラスビード法、マトリックス補正、繰り返し精度、検出限界
XRF62
ファンダメンタルパラメータ法における灼熱減量補正
FP搭載走査型装置一般
灼熱減量(LOI)、ガラスビード法、窯業試料、FPグループ定量
XRF61
蛍光X線分析法による河川堆積物の分析
FP搭載走査型装置一般
オーダ(SQX)分析、不均一効果(鉱物効果・粒度効果)、粉末法、ガラスビード法
XRF60
標準試料が準備できない時の蛍光X線による多層薄膜分析
FP搭載走査型装置一般
多層薄膜、FP法、ライブラリを用いた定量分析
XRF59
蛍光X線による岩石の主成分及び微量成分の分析
走査型装置一般
岩石、ガラスビード法、粉末法、主成分と微量成分、検量線法
XRF54
蛍光X線分析による状態分析
走査型装置一般
状態分析、SiKβ
XRF52
特殊黄銅の蛍光X線分析
同時型装置一般
走査型装置一般
試料採取、表面研磨、各種補正モデル、スペクトル選択、特殊黄銅、補正係数の求め方、理論djと実測dj
XRF51
磁気ディスクの潤滑膜及び保護膜の厚さ測定
3640
3272
その他薄膜評価用装置
磁気ディスク、潤滑層、保護膜、FKα線、多層膜、FP法、膜厚測定
XRF31
MnKaとCrKb1の分離
走査型装置一般
角度分解能、分光結晶とスリットの組合せ