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低分子関連装置

湾曲イメージングプレート単結晶自動Ｘ線構造解析装置 R-AXIS RAPID II


湾曲イメージングプレート単結晶自動Ｘ線構造解析装置 R-AXIS RAPID II
広いダイナミックレンジを持つイメージングプレートを用いた単結晶Ｘ線構造解析装置で、低分子結晶だけでなく、タンパク質結晶や多結晶の測定も可能です。
市販されているほとんどの管球（Ag〜Cr）に対応しています。また、1/4χサークルゴニオメータの採用により、ブラインド領域はほとんどないため、多くの回折点を測定することができます。
本製品は第28回井上春成賞*を受賞致しました。 *井上春成賞：独立行政法人 科学技術振興機構の前身の一つである新技術事業団の初代理事長であり、工業技術院初代長官でもあった井上春成氏が、わが国の科学技術の発展に貢献した業績に鑑み、新技術事業団の創立15周年を記念し創立されたもの。

製品の特長・仕様

  • 広いダイナミックレンジ ダイナミックレンジの広い（1.05×106）イメージングプレートを採用しているため、長時間の露光を必要とする測定にも威力を発揮します。
    特に、高角側の回折強度に大幅な減衰が見られるサンプルに対して有効です。
  • 広い測角範囲 Cu線源対応の広い測角範囲（-60°〜+144°）により、良好なピーク分離を示します。また、重原子を含まない有機結晶の絶対構造を決定する際に、短時間で必要なデータを収集することができます。
  • 様々な応用研究に対応 イメージングプレートはCu線源とMo線源の両方に対応しているため、様々な応用研究に対応した測定および解析が行えます。
  • Ｘ線発生装置は、3kW封入管か5.4kWロータの選択が可能。
アプリケーション例：比較的格子が長い結晶の解析例（金属錯体化合物）
アプリケーション例：化学的刺激に応答する磁性体の解析例（金属錯体化合物）
アプリケーション例：金属錯体型ナノカプセルの解析例（金属錯体化合物）

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