小角散乱測定装置
ナノスケールＸ線構造評価装置 NANO-Viewer
ナノテクノロジーを駆使して、ゲノム（蛋白質）、半導体材料、高分子材料、環境材料など、あらゆる分野で新しい物質が作られています。NANO-Viewerは、これらの物質の分子レベルの構造（1nm〜100nmのマクロ構造）から原子レベルの構造（0.2nm〜1nmのミクロ構造）まで評価できる、Ｘ線構造評価装置（小角Ｘ線散乱測定装置）です。
製品の特長・仕様
- 温度、湿度、磁場などの環境下で構造の変化を観察することができ、物質の機能を評価できます。たとえば、燃料電池のイオン交換膜（温度と湿度）や液晶(温度と磁場）、共重合体の高分子材料（温度と濃度）などの構造評価が可能です。
- 生体材料の機能評価、インプレーン小角測定による薄膜の評価、超微粒子の自己組織化の評価など、従来のラボの装置では困難だった評価が可能です。
- 点収束型のＸ線集光ミラー（多層膜ミラー）Confocal Max-Flux（CMF）Opticにより、約3×107cps〜6×108cpsの高強度のクリーンな入射Ｘ線が得られます（スリット条件により強度が異なります）。
- CMF Opticの点収束光学系は、調整が非常に容易です。前後と入射角（θ）の2点調整のみで、理想的な条件での測定ができます。
- 収束点の近傍に試料をセットするため、Ｘ線照射面積が小さく、小試料でも測定が可能です。特にキャピラリ等、小さな照射面積が必要な試料容器でも、強度をロスすることなく測定できます。
- カメラ長（試料と検出器の距離）が、金属ベローズ（連続可変真空パス）を使うことによって、400mm〜700mmまで連続可変できます。
- 測定範囲は、小角が2θ=0.07°（q=0.05nm-1）から、広角が2θ=45°（q=31.21nm-1）まで可能です。
- 空気散乱や真空遮蔽膜からの散乱をなくすため、スリット系、試料部、検出器までをすべて真空にできます。
