走査型蛍光Ｘ線分析装置
走査型蛍光Ｘ線分析装置 ZSX PrimusII
新光学系の採用により、高精度分析を実現した上面照射タイプの走査型蛍光X線装置です。測定可能元素範囲は4Be〜92Uで，最小分析径φ0.5mmが可能です。また、新型分光結晶の採用により、超軽元素であるホウ素が2倍の感度アップを実現しています。Ｘ線管は4kW(Rh)、3kW(各種)、デュアルターゲットより選択可能です。CCDカメラを搭載可能で、試料画像上で分析位置指定やマッピング測定、表示などができます。
製品の特長・仕様
- New SQXソフトウェアの搭載により，軽元素ベースの物質（ポリマー等）の定量分析がより正確に行えます。
- 新分光結晶の開発によりB，C等の超軽元素の高感度化（従来機比2倍以上）を実現しました。
- 100μmのマッピング位置分解能で，プリント基板上の配線などの分析や成分に偏り（偏析）のある試料の微小部分析が可能です。
- 重元素分析の高感度化（従来機比1.5倍）により，有害金属などの環境分析がさらに簡便になりました。
- 冷却水量低減（従来の1/2以下），PRガス量低減（従来の1/10），X線管出力自動低減機能搭載の省エネルギー設計です。
- 本体・X線発生装置・送水装置をAll in Oneとし，設置面積従来比70%（幅1310×奥行880×高さ1325mm）の省スペース設計です。
- r-θ駆動の試料ステージ採用で測定ポイントによるX線強度変化が生じません。
| アプリケーション例：土壌溶出溶液の微量有害元素分析 |  |
| アプリケーション例：下水汚泥・堆積物中の公害元素の定量分析 | |
