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水晶、ダイヤモンド、Si、GaAs、GGG・・・などの単結晶を、それぞれの目的に合った特性とするための、結晶軸に対する切断方向結晶方位測定を行うのがＸ線単結晶方位測定装置です。

多目的測定アタッチメントMPA-2000は、極点・薄膜・歪の各測定を一台で行なう事が出来るアタッチメントです。 RINT2000シリーズで上記の各測定を行なう場合、測定目的ごとにそれぞれ専用の物が必要でしたが、煩わしいアタッチメント交換を不要にした、画期的なシステムです。

新光学系の採用により、高精度分析を実現した上面照射タイプの走査型蛍光X線装置です。測定可能元素範囲は₄Be〜₉₂Uで，最小分析径φ0.5mmが可能です。また、新型分光結晶の採用により、超軽元素であるホウ素が2倍の感度アップを実現しています。Ｘ線管は4kW(Rh)、3kW(各種)、デュアルターゲットより選択可能です。CCDカメラを搭載可能で、試料画像上で分析位置指定やマッピング測定、表示などができます。

多元素同時分析機能により、工程管理分析が迅速にできます。バックグラウンド測定機能を搭載可能で金属組成や熱履歴など、計算による補正が困難な誤差要因を補正でき正確な分析が可能です。各種前処理装置との結合も可能で多岐にわたる工程管理に対応できます。

工程管理などのために測定ヘッドを製造ライン内に設置して、処理されたばかりのメッキ層の厚みや組成、あるいは皮膜の厚みなどをリアルタイムに測定するもので、鉄鋼関係はもちろんのこと製紙やフィルムの分野など幅広く利用されています。

TGとDTAの同時測定装置です。
TGは、水平差動方式を採用しており、雰囲気ガスの流量による影響も小さく、微小重量変化も高精度で検出可能です。
重量変化速度により温度制御を行うダイナミックTGを標準搭載し、高分解能TG測定が可能です。制御モードは、SIA、DRC、CRCの中から選択できます。
水蒸気雰囲気下での測定や、発生ガス分析などの拡張性も十分に配慮した設計になっています。

DSCは、試料を加熱または冷却した時に、試料内に発生する熱エネルギーの変化を比較的微量の試料を使用し、再現性よく定量的に検出する手法であり、原理的に、エネルギー補償型と熱流速型に分けることができます。
リガクが採用している熱流速型DSCは、DTA(示差熱分析)から発展してきたもので、DTAを定量することによりエネルギーを測定する方式です。

TMAは、物質の温度をプログラムに従って変化させながら、圧縮、引張、曲げ、ねじりなどの非振動的な荷重を加えて、その物質の変形を温度の関数として測定する方法と定義され、試料を加熱または冷却した際の試料の形状変化を検出する手法です。
TMAの測定方法には、荷重条件と対象となる試料の形状に応じて、圧縮荷重、引張荷重、ペネトレーション、曲げの4種類の測定モードがあります。圧縮荷重モード、引張荷重モードでは、膨張量から膨張率・膨張係数を求めることができます。

TS-POLARはフェムトアンペア（fA=10^-15A）オーダーまで検出が可能な熱刺激電流測定装置（Thermally Stimulated Current：TSC）です。微小な電流変化から分子やイオン等の動きを検出することにより、ポリマーや複合化された電子材料まで、有機・無機の素材のみならず製品そのものが測定対象となります。高分子材料評価では、DSCやDMAでは検出が困難な局所的な分子運動も高感度測定できます。