結晶方位解析

単結晶では成長過程や切り出す結晶面を調べるために結晶方位を確認します。また、圧延材料や薄膜などの配向の状態を評価することが必要です。

• 高分子材料の方位解析
• 極点解析におけるDefocus補正
• 大きな結晶粒に対するγ揺動の効果
• Cu圧延板の結晶方位解析
• Zrパイプ内側の結晶方位
• ラビング処理ガラス基板上 Cuフタロシアニン薄膜の分子配向評価
• PETボトルの部位による材料の強度の違い
• 有機TFT用薄膜ペンタセンの回折測定
• 液晶分子の配列を調べる
• 薄膜の3次元的な配向状態を調べる
• 結晶の形状に依存しない測定をしたい

• 湾曲IPＸ線回折装置　RINT-RAPIDII
• 試料水平型多目的Ｘ線回折装置　UltimaIV
• 試料水平型強力Ｘ線回折装　RINT-TTRIII
• 自動Ｘ線回折装置　RINT 2500/PCシリーズ
• Ｘ線単結晶方位測定装置　2991F2/2991G2

• 定性・定量
• 格子定数
• 結晶子サイズと格子歪
• 粒径・空孔径解析
• 単結晶構造解析
• 粉末構造解析
• ナノ構造評価
• 結晶方位解析
• 極薄膜評価
• 極点