結晶化プレート in situ Ｘ線照射アタッチメントを用いたクイックスクリーニング

タンパク質の結晶化では、同じ結晶化条件で析出した結晶でも、良好な回折を示す結晶とほとんど回折スポットが得られない結晶及び複数の結晶が接合した双晶が混在する事が多々あります。さらに、顕微鏡下の観察では、これらの結晶を見分けることが困難です。このため、結晶を実際にＸ線で照射し、回折能を評価する必要があります。しかし、各結晶において、抗凍結剤処理、結晶のマウント、センタリングおよびスクリーニングを実施する必要があるため、非常に時間がかかる煩雑な作業を伴います。この煩雑な結晶のスクリーニングも、高輝度のＸ線発生装置のCu線源を備えたXtaLAB SynergyとXtalCheck-SおよびCrysAlis^Proを組み合わせることにより、結晶化プレートのままで結晶の評価が可能となりました。

推奨装置（測定装置）

XtaLAB Synergy システム

XtalCheck-S