2線源搭載湾曲イメージングプレート単結晶自動Ｘ線構造解析装置 DualSource RAPID II （販売終了）
R-AXIS RAPID II システムに、CuとMoの2種類のＸ線源を搭載した、2波長対応システムです。 Cu線源が適している格子の大きな結晶の測定や絶対構造の決定から、Mo線源が適している無機化合物の測定や高分解能な測定まで、1台の装置で行えます。 2つの線源を自動で切り替え、連続で測定することも可能です。
- R-AXIS RAPID II システム
Cu線源、Mo線源ともに数多くの実績を持つ、湾曲イメージングプレートのシステムです。 - 高分解能、大面積のイメージングプレート(IP)
ダイナミックレンジが広く（1.05×106）、暗電流によるノイズも発生しないため、長時間の露光を必要とする測定にも威力を発揮します。Cu線源を使用すれば、単結晶だけでなく、粉末回折、繊維回折の測定も可能です。 460×256 mm の検出面積で、広い測角範囲（-60°～+144°）を実現しています。 ピクセルサイズは100×100μmで、高分解能（0.045°/pixel）で測定できます。 - 2つのＸ線源
Cu線源はマイクロフォーカス管、Mo線源は3kW封入管+SHINE光学系で、ローター並みのパフォーマンスを発揮します。
※ 詳細につきましては、お問い合わせ下さい。