リガクWebinarシリーズ

概要： 材料評価に必須なXRDの基礎的評価法として、定性分析・1次粒子評価(結晶子サイズ)・構造解析(Ritveld解析)の各種解析法をアプリケーション例を交えながら紹介します。

概要：Ｘ線回折法で質の高い回折図形を取得するには、最適な測定条件の設定だけではなく、選択配向などの試料の特性を加味して測定を行う必要があります。本セミナーでは、粉末Ｘ線回折測定に最適な測定条件の決め方と、選択配向を低減する測定方法を紹介します。

概要： 製造ラインに組み込まれ工程管理や品質管理に用いるインライン計測システムについて紹介します。簡便で汎用性の高いエネルギー分散型の蛍光Ｘ線方式の測定ヘッドについて説明します。