各定員：500名（無料：事前登録制）
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絞り込み検索（結果） タイトル
| 開催日 | 区分 | 受付 | タイトル | 開催言語 |
| 2021年 03月19日（金） | XRD | 開催済み | Ｘ線回折入門セミナーRietveld定量の基礎とSmartLab Studio IIを用いた解析例概要：Rietveld法を用いた定量分析は、多成分系試料に対してスタンダードレスで迅速な評価が可能なため、研究開発や品質管理の場で広く使用されています。本セミナーでは、Rietveld法の基礎の説明とSmartLab Studio IIを用いた様々な試料の解析例の紹介を行います。 講師：葛巻 貴大（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 参加登録：https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_cV4QEqotRTypx7fvUNAGbg
| 日本語 |
| 2021年 03月19日（金） | XRD | 開催済み | 粒子径分布測定セミナー小角Ｘ線散乱の解析ソフトMRSAXSを用いた粒子径分布解析概要：小角Ｘ線散乱の解析ソフトウェアMRSAXSを用いてモデルフィッティングによる粒子径分布解析の手順をナノ粒子の解析例を踏まえてご紹介します。 講師：尾本 和樹（株式会社リガク Ｘ線機器事業部）講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 参加登録：https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_ll_RChM-RaW9l0IsGGTTug
| 日本語 |
