リガクジャーナル タイトル一覧

リガクジャーナル タイトル一覧

ISSN 1883-8456
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リガクジャーナル タイトル一覧

2019年
4月
  • X線散乱パターンを用いたPDF解析~理論と実際~
  • SmartLab Studio IIのTexture(集合組織・配向評価)プラグインによる配向組織の定量分析
  • ZSX Guidanceの進化した半定量分析(SQX分析)
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第8回 油固化法
  • 定量アプリケーションパッケージによる耐火物の分析
  • X線顕微鏡(CT)nano3DXによる電子部品観察
  • 携帯型ラマン分光計による危険物・薬物の同定
  • 黒鉛・グラフェン分析インデックス計算ソフトウェア GG Index
  • 3次元逆空間ビューア Ewald3D
2018年
10月
  • 結晶スポンジ法を応用した香気成分の分子構造の決定
  • 2次元検出器を用いた微小角入射X線回折(GI-SAXS/WAXS)測定
  • 2D-SAXS/WAXSシステムを用いた結晶性高分子材料の評価
  • セメントの蛍光X線分析
  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置を用いた異物解析
  • 全反射蛍光X線分析法による飲料・生体試料の分析
  • 3DマイクロX線CT CT Lab HX
4月
49巻 1号 通巻109号
  • 2017年ノーベル化学賞
  • 最先端分析機器が拓く革新的有機半導体材料の開発
  • SmartLabで実現できる様々な極点測定法と薄膜解析のアプリケーション
  • SmartLab Studio IIを用いたリアルタイム解析・表示機能について
  • 蛍光X線の分析例 溶融亜鉛めっき鋼板の分析
  • 示差熱天秤-フーリエ変換赤外分光分析(TG-DTA-FTIR)法による発生ガス分析
  • 全自動多目的X線回折装置 SmartLab
  • 多元素同時蛍光X線分析装置 Simultix 15
  • 蛍光X線分析装置 ZSX Primus 400
2017年
10月
48巻 2号 通巻108号
  • 結晶スポンジ法 ~結晶化のいらない単結晶X線構造解析法~
  • 磁場配向粉末試料を用いたX線単結晶構造解析
  • 各結晶相の積分強度と化学組成から求める新しい定量分析
  • 粉末X線回折における多次元測定の利用
  • 粉末試料におけるガラスビード法と加圧成形法の分析値比較
  • 2次元検出器HyPix-400 MF搭載可能 デスクトップX線回折装置 MiniFlex ―卓上機での2次元測定が実現―
  • Thermo plus EVO2 示差走査熱量計 DSCvesta
  • 示差熱天秤-ガスクロマトグラフィ質量分析同時測定システム TG-DTA/GC-MS
  • TG-DTA-FTIR同時測定システム ―TG-DTAで発生したガスの赤外スペクトルをリアルタイム分析―
4月
48巻 1号 通巻107号
  • 2015年・2016年のノーベル医学・生理学賞
  • キャピラリー高温アタッチメントを用いた粉末結晶構造解析
  • X線によるマルチスケール構造解析 ―燃料電池の構造解析を例に―
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第14回 モデルの構築と精密化,結果の評価
  • 蛍光X線薄膜FP法による薄膜の膜厚・組成分析
  • FP法によるコンプトン散乱線レシオ法の拡張と鉱石中金属元素の分析
  • デスクトップ型単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini II
  • 統合X線回折ソフトウェア SmartLab Studio II ―新機能の紹介―
2016年
10月
47巻 2号 通巻106号
  • X線顕微鏡による内部構造変化のその場観察
  • 多層膜ミラーX線光学素子の原理と応用 SmartLabにおけるCBOシリーズ
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第13回 タンパク質構造解析における位相決定
  • 波長分散小型蛍光X線分析装置による点滴フィルターを用いた液体試料の分析―試料押さえ(RS200-G)の使用例―
  • 単結晶X線構造解析装置 XtaLAB Synergy
  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE ―微少量分析,PDXLデータ解析用の元素情報取得に最適―
  • 試料観察示差熱天秤 Thermo plus EVO2 試料観察TG8121
  • 粉末解析ソフトウェア EasyX ―簡単操作による定性・定量分析―
4月
47巻 1号 通巻105号
  • 次世代機能性酸化物薄膜材料の評価 ―2次元検出器を活用して―
  • 誤差項によるd0の最適化を組み込んだX線応力解析手法 Direct Refinement Solution(DRS)法
  • X線トポグラフによる転位測定とSiC転位密度解析ソフトウェア
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第12回 タンパク質結晶のデータ測定と処理の注意点
  • 全反射蛍光X線分析法による液体試料の分析例
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第7回 液体試料
  • ナノスケールX線構造評価装置 NANOPIX
  • 3DマイクロX線CT CT Lab GX90/GX130
  • 単結晶構造解析 統合プラットフォーム CrysAlisPro
  • 回折法を用いたX線分析を始める人のために ―X線回折の仕組み―
2015年
10月
46巻 2号 通巻104号
  • 超高輝度微小焦点X線回折装置と2次元検出器による微小部X線回折測定 -SmartLab μHRとHyPix-3000-
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第11回 タンパク質の結晶化~BioSAXSによる可否判定~
  • 蛍光X線分析法における微量試料測定のノウハウ
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第6回 金属試料処理
  • TG-DTA-MSによる高分子、鉱物、医薬品、食品の分析
  • 医薬品分野における1064 nm励起携帯型ラマン分光計の利点
  • 蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV
  • 卓上型全反射蛍光X線分析装置 NANOHUNTER II
4月
46巻 1号 通巻103号
  • 2014年 青色LED ノーベル物理学賞受賞によせて
  • 微小部X線回折による文化財の測定
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第10回 X線構造解析のためのタンパク質の発現
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第5回 ガラスビード法 応用編
  • 実験動物用3DマイクロX線CT CosmoScan GX -さらなる高精細CT撮影を実現-
  • 示差熱天秤-光イオン化イオントラップ質量分析同時測定装置 Thermo iMS2
  • 統合X線回折ソフトウェア SmartLab Studio II -測定から解析まですべてをこなす統合X線回折ソフトウェア-
2014年
10月
45巻 2号 通巻102号
  • X線回折法における2次元検出器の活用 -HyPix-3000を用いた様々な試料の解析-
  • 高分解能X線顕微鏡nano3DXによる観察の基礎 -より良い画像を得るために-
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第9回 タンパク質構造解析と低分子構造解析
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第4回 ガラスビード法 基礎編
  • 全自動多目的X線回折装置 SmartLab 3
  • 可搬型X線応力測定装置 SmartSite RS -世界最小,最軽量,短時間測定を実現-
  • 単結晶X線構造解析装置 XtaLAB PRO -低分子結晶からタンパク質結晶まであらゆる測定に-
  • 構造解析プログラムパッケージ CrystalStructureTM 4.1
4月
45巻 1号 通巻101号
  • 応力解析の最先端
  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置NEX CGを用いたPM2.5の成分分析
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第8回 双晶の見極め方と解析の要点
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第3回 加圧成形法およびルースパウダー法
  • Thermo plus EVO2 熱膨張計 TDL 8411
  • ハイブリッド型多次元ピクセル検出器 HyPix-3000
  • タンパク質結晶その場観察用プレートアダプター PlateMate
2013年
10月
44巻 2号 通巻100号
  • リガクジャーナル通巻100号に寄せて
  • GaN材料の評価技法について (光エレクトロニクス・パワーデバイス特集①)
  • 高分解能X線回折法によるGaN材料の評価 (光エレクトロニクス・パワーデバイス特集②)
  • 光エレクトロニクス・パワーデバイスの熱分析による評価―発生ガス分析と熱刺激電流によるアプローチ― (光エレクトロニクス・パワーデバイス特集③)
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第7回 不規則構造の精密化
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第2回 粉末試料の粉砕方法
  • ハイブリッドピクセル検出器搭載単結晶X線回折装置XtaLAB P200の特長と測定例
  • ハイスループット&高分解能X線トポグラフイメージングシステム XRTmicron
  • 高速1次元検出器 D/teX Ultra 250
  • タンパク質結晶測定対応 R-AXIS RAPID II用 測定処理ソフトウェア RAPID AUTO 3.0
4月
44巻 1号 通巻99号
  • 医薬品の研究開発・生産とリガクの分析装置 (医薬品分析特集①)
  • X線構造解析による化合物の探索 (医薬品分析特集②)
  • 粉末X線回折、熱分析による結晶多形の評価 (医薬品分析特集③)
  • X線顕微鏡による固体医薬品観察 (医薬品分析特集④)
  • 携帯型ラマン分光計による医薬品原料の確認試験 (医薬品分析特集⑤)
  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDXL 300による医薬品の微量不純物の分析 (医薬品分析特集⑥)
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第6回 CIFについて~Alertと対策~
  • 低分子単結晶X線回折実験の応用例
  • 蛍光X線分析法における試料調製 第1回 試料調製の概要
  • 2線源搭載湾曲イメージングプレート単結晶自動X線構造解析装置 DualSource RAPID II
  • 微小部X線応力測定装置 AutoMATE II
  • 動物病院用3DマイクロCT R_mCT AX
  • Thermo Mass Photo 用試料自動交換機 スマートローダーとポリマー定性・定量解析支援ソフトウェア Discrim-Mass ―TG-MSシステムのハイスループット化の実現へ―
2012年
10月
43巻 2号 通巻98号
  • 現代結晶学100年にあたって
  • SiCパワーデバイスにおけるX線・熱分析 (パワーデバイス特集①)
  • 全反射蛍光X線分析によるパワー半導体デバイスのウェーハ汚染評価 (パワーデバイス特集②)
  • SiCウェーハの結晶欠陥と新型X線トポグラフ装置 (パワーデバイス特集③)
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第5回 構造解析の要点
  • 元素分析アタッチメントを活用した新しい重原子探索法と多波長システムを用いたin house MAD法
  • 高分解能3DX線顕微鏡 nano3DX
  • 統合プラットフォーム
4月
43巻 1号 通巻97号
  • オンラインX線計測装置について
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第4回 データ測定と処理
  • WDX小型蛍光X線分析装置Superminiによる酸化物粉末のガラスビード法分析
  • 熱分析の測定ノウハウ ―高真空下での昇温脱離ガス質量分析装置(TPD-V)―
  • 結晶子サイズとひずみの式における記号に関して
  • X線小角散乱測定装置 BioSAXS-1000
  • デスクトップX線回折装置 MiniFlex300/600
  • 統合粉末X線解析ソフトウェア PDXL 2
2011年
10月
42巻 2号 通巻96号
  • ますます注目をあびるリチウムイオン電池 (リチウムイオン電池①)
  • リチウムイオン電池材料の最先端研究・開発要求に応える最新X線回折技法 (リチウムイオン電池②)
  • グロー放電発光分析(GD-OES)によるリチウムイオン電池の材料分析、劣化分析 (リチウムイオン電池③)
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第3回 微結晶の測定
  • Fundamental Parameter法(FP法)による結晶子サイズ・格子歪の解析
  • 実験動物用3DマイクロCT R_mCT2における心拍同期撮影の新方法
  • 熱分析の測定ノウハウ TSC測定法 ―フィルム・粉体試料の測定―
  • 全反射蛍光X線分析装置 TXRF 3800e
  • 熱刺激電流測定システム/エレクトロントラップシステム TS-POLAR/TS-FETT ―フェムトアンペアの電流計測による高分子材料や半導体材料の評価―
4月
42巻 1号 通巻95号
  • 高周波グロー放電発光分光分析法
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第8回 検出器の活用とシリーズまとめ
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第2回 結晶の整形とマウント
  • Kα1光学系を搭載した汎用X線回折装置による粉末未知結晶構造解析
  • 高分子材料の劣化による熱挙動への影響
  • 高スループット薄膜用X線回折装置 SmartLab HTP ―ローダー付き高機能薄膜用X線回折装置を生産現場で―
  • 電池セルアタッチメント ―in situ X線回折で、充放電しながら極材料の構造変化を追う―
2010年
10月
41巻 2号 通巻94号
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第7回 極点測定
  • 単結晶X線構造解析 基礎講座 第1回 単結晶X線構造解析とは
  • 高速・高感度2次元検出器PILATUS搭載XRD-DSCで相転移・融解・結晶化の動的変化を詳細に観察する
  • スキマー型示差熱天秤-光イオン化質量分析法 ─TG-DTA-PIMS─
  • 微小部対応エネルギー分散型蛍光X線分析装置
  • Thermo plus Evo II 熱機械分析装置 TMA8310
  • 実験動物用3DマイクロX線CT R_mCT2
  • 2波長対応回転対陰極体システム MicroMax007 VariMax DW ─1つの装置で2波長のデータ取得を実現─
4月
41巻 1号 通巻93号
  • X線構造解析の金字塔-リボソームの構造解析
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第6回 X線小角散乱測定
  • 微小部X線回折測定
  • 高速1次元X線検出器D/teX Ultra搭載デスクトップX線回折装置MiniFlex IIによる高速、高分解能、低バックグラウンド測定
  • 双晶の解析
  • 鉱石・岩石分析等で有効なガラスビード法を用いた蛍光X線分析法
  • Thermo plus EVO II 差動型示差熱天秤 TG8120
  • 全自動水平型多目的X線回折装置SmartLab粉末用各種光学系
  • 高速1次元X線検出器付デスクトップX線回折装置MiniFlex II+D/teX Ultra ―デスクトップ型装置で上位汎用装置に迫る性能を―
  • 蛍光X線分析用アプリケーションパッケージ ―定量分析のセットアップを簡単に―
2009年
10月
40巻 2号 通巻92号
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第5回 X線反射率測定
  • 粉末X線回折データを用いた未知結晶構造解析の方法
  • 卓上型全反射蛍光X線分析装置への深さ方向分析機能の導入
  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置EDXL 300による環境試料の分析
  • 熱分析の測定ノウハウ ―示差熱天秤-質量分析(TG-DTA-MS)法による発生ガス分析―
  • Thermo plus EVO II 高感度示差走査熱量計 DSC8230
  • 超高分解能スパイラルアナライザ CALSA
  • 薄膜総合解析ソフトウェア GlobalFit(反射率解析)
4月
40巻 1号 通巻91号
  • 熱刺激電流測定“TSC”による材料評価 ―高分子の緩和現象から半導体のトラップ評価まで―
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第4回 In-plane測定
  • 高速1次元X線検出器を用いたX線回折-示差走査熱量同時測定
  • ポリキャピラリレンズ搭載波長分散型微小部蛍光X線分析装置による微小領域の高感度分析
  • 熱分析の測定ノウハウ ―水蒸気雰囲気下での熱分析について―
  • デスクトップ単結晶X線構造解析装置 XtaLAB mini ―世界最小サイズを実現―
  • 統合粉末X線解析ソフトウェア PDXL ― 一歩進んだ解析を目指して―
2008年
10月
39巻 2号 通巻90号
  • 結晶子のサイズと歪の測定
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第3回 高分解能X線回折法
  • ASTM C114およびJIS R5204に基づくセメント分析 ―WDX小型蛍光X線分析装置Superminiを用いて―
  • 蛍光X線による食品系試料の元素分析 ―エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDXL 300による分析例―
  • 実験動物用3DマイクロX線CT R_mCTによる超高速撮影を利用した呼吸同期撮影の新手法
  • 熱分析の測定ノウハウ ―熱機械分析(TMA)について―
  • 多元素同時蛍光X線分析装置 Simultix 14
  • ロッキングカーブ解析ソフトウェア GlobalFit Extended Rocking Curve Analysis
4月
39巻 1号 通巻89号
  • X線分析における多層膜素子
  • すれすれ入射X線小角散乱"GI-SAXS"によるナノ構造の評価
  • 複合熱分析法 ―加熱時発生ガス質量分析 EGA-MS―
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第2回 Out-of-plane測定
  • 蛍光X線分析法による岩石の分析 ―WDX小型蛍光X線分析装置 Superminiを用いて―
  • 熱分析の測定ノウハウ ―速度制御熱分析(Dynamic TG, Dynamic TMA)について―
  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDXL 300
  • 高エネルギー分解能高速X線検出器 D/teX Ultra ―従来比100倍の高強度と高速測定を実現―
  • 結晶子サイズ分布解析ソフトウェア CSDA
2007年
10月
38巻 2号 通巻88号
  • 粉末構造解析―身近になった構造解析手法
  • 蛍光X線分析で使用される半導体検出器の特徴
  • 薄膜X線測定法 基礎講座 第1回 シリーズ概要
  • 単結晶のサンプリング方法
  • 蛍光X線分析法を用いた排水・河川水中の微量重金属分析 ―重元素のppb ~サブppm レベルの分析例―
  • 熱分析の測定ノウハウ ―測定条件が結果に及ぼす影響について―
  • 多目的試料水平型X線回折装置Ultima IV
  • 波長分散小型蛍光X線分析装置Supermini
  • 熱分析装置Thermo plus EVO ―優れた性能と安全性の調和―
4月
38巻 1号 通巻87号
  • 高圧地球科学と結晶学
  • 垂直配向ナノシリンダー構造を有する高信頼性高分子ナノテンプレート膜
  • 100℃以下での酸化チタンの結晶化
  • ナノチタニア界面の電子トラップに着目した色素増感太陽電池の性能向上指針―熱刺激電流による界面電子トラップの解析―
  • D/teX-25を用いたX線トポグラフィシステム
  • 斜入射蛍光X線分析法によるソーダライムガラス表層元素の非破壊分析
  • 合金化溶融亜鉛メッキ鋼板の膜厚・Fe 濃度の同時分析
  • 卓上型全反射蛍光X線分析装置NANOHUNTER
  • Thermo Plus 2 シリーズ昇温脱離ガス光イオン化質量分析装置TPD type R Photo
2006年
10月
37巻 2号 通巻86号
  • 惑星探査とX線結晶学
  • 無添加酸化亜鉛薄膜の製膜初期過程の研究
  • 放射光マイクロビームを用いたX線分析
  • 発生気体分析における新規装置の開発と応用―スキマーインターフェースとイオン付着質量分析法の採用―
  • Out-of-Plane/In-Plane 逆格子マップ測定法による薄膜試料の配向ドメイン評価
  • 光イオン化質量分析法を用いた加熱時発生ガス分析法の特長
  • 3DマイクロX線CTと新しい解析用アプリケーション
  • MiniFlex II―新・デスクトップX線回折装置―
  • SmartLab「機械工業デザイン賞」および「R & D 100 賞」を受賞
4月
37巻 1号 通巻85号
  • 科学技術の取り組むべきもう一つの課題
  • 反応性固相エピタキシャル成長法
  • 蛍光X線装置による臭素系、アンチモン系難燃剤を含むプラスチック材料中の微量カドミウム、鉛の分析方法
  • 薄膜および膜原料の熱分析:セラミックス透明導電膜と有機ELディスプレイ
  • 新規DDS製剤nanoegg(TM)カプセル
  • ガス状水銀の化学形態別連続分析計の開発
  • 高濃度水蒸気雰囲気中での酸化亜鉛の低温合成
  • RINT-Ultima III, RINT-TTR III用薄膜試料高温装置DHS900を用いたCu薄膜の測定
  • SCXmini ―卓上型低分子用単結晶X線構造解析装置―
  • 蛍光X線分析装置ZSX400 ―直径400mmまでの多様な試料形状に対応―
  • 熱分析電子冷却アタッチメント ―卓上型冷却装置の実現―
2005年
10月
36巻 2号 通巻84号
  • 温故
  • 製薬産業におけるX線粉末回折法の応用
  • 微量金属定量用のプラスチック標準試料の作製法
  • 耐火物の蛍光X線分析方法の現状
  • 高分解能インプレーン回折法によるSGOI基板の高精度格子歪み測定
  • 新型二次元検出器D/teX-25の概要とそのアプリケーション
  • 試料水平多目的X線回折装置 SmartLab ―薄膜測定のビギナーでも高度な応用測定が可能に―
  • 波長分散小型蛍光X線分析装置 Primini
  • 加熱時発生ガス分析用 3次元マトリックスデータ表示・解析ソフトウエア
  • 乾式形態別水銀連続測定装置 MS-D1/DM-6B ―還元溶液不要! 燃焼排ガス中水銀の化学形態別連続測定を実現!―
  • 株式会社リガクX線研究所 城 始勇,日本化学会より「化学技術有功賞」受賞
    ―単結晶X線構造解析2500件の実績から―
4月
36巻 1号 通巻83号
  • 実験室X線利用技術と放射光利用技術
  • X線溶液散乱法による生体超分子複合体の低分解能溶液構造解析
  • 大気圧ハライド気相成長法によるδ-Bi2O3薄膜の作製と薄膜構造評価用X線回折装置による結晶性評価
  • 結晶構造と電子状態の三次元可視化システムVENUS
  • 実験動物用μCT(R_mCT)の開発および運用―1600の検査例から―
  • いぶし瓦表面炭素膜の放射光軟X線状態分析
  • 平行ビーム光学系X線粉末回折測定を用いた医薬品中の原薬及び多形不純物の定性的・定量的評価
  • SQX散乱線FP法 ―SQX分析が更に進化しました―
  • Thermo Plus シリーズ示差熱天秤-質量分析同時測定装置 新型Thermo Massの紹介
2004年
10月
35巻 2号 通巻82号
  • いま国立大学法人に求められていること
  • 小角・広角X線/偏光解消小角光散乱同時測定による結晶性高分子の構造解析
  • 高温X線回折測定による固体材料の熱膨張および相転移温度の評価-熱測定との比較
  • TiNおよびTiAlN薄膜の応力のX線的評価
  • 放射光を用いた流体水銀の構造研究-金属‐非金属転移とゆらぎ-
  • X線小角散乱法を利用したナノ粒子の粒径分布解析
  • たんぱく質結晶構造解析用高分解能X線回折装置 R-AXIS HR
  • 低分子用自動単結晶X線構造解析装置 R-AXIS RAPID II
  • 2次元固体高速検出器 D/teX-25がX線回折の新しい時代を拓く-高速・高感度測定から錠剤そのままの測定まで-
  • 蛍光X線分析装置 ZSX Primus II
  • 世界初 試料の湿式分解から測定までの自動化を実現! 全自動還元気化水銀測定装置マーキュリー/RA-3420
  • Mini-Zシリーズ
4月
35巻 1号 通巻81号
  • リガクe-ジャーナルの発刊に寄せて
  • 結晶解析1959-2002
  • 熱刺激電流スペクトロスコピーの静電粉体塗装分野への応用
  • 微小部X線分析―TXRF2003サテライト会議での話題を中心に―
  • 半導体材料の放射光全反射蛍光X線分析
  • 3次元的に配向させた有機薄膜のX線回折測定
  • 蛍光X線分析装置ZSX Primus
  • VariMax(MoKα)を用いた低分子用構造解析システム
  • 超軽元素蛍光X線分析用多層膜分光素子
  • 蛍光X線による水溶液中の微量元素の分析―新製品ウルトラキャリーの紹介
2003年
10月
34巻 2号 通巻80号
  • 放射光までの道のり
  • 放射光波長変調回折法とその最近の発展
  • 新規な共役ケイ素-ケイ素二重結合化合物、スピロペンタシラジエンとトリシラアレンの合成、X線構造解析と特異な電子状態
  • 多層膜ターゲットにおける特性X線の空間分布のモンテカルロシミュレーション
  • 半導体プロセスX線膜厚・密度・組成測定装置 GXR300
  • クリーンな環境での高温迅速測定アタッチメント Reactor-X
4月
33巻 2号 通巻78号 , 34巻 1号 通巻79号 合併号
  • 国際舞台
  • Pt(001)/MgO基板上に成膜されたPZT薄膜の結晶構造
  • 固液界面におけるシリコンウェハと極微量金属種の反応の解析
  • X線応力測定装置の系統誤差
  • 省エネ・強力X線発生装置システム―MicroMax007
  • 完全コンピュータ制御・加熱気化全自動水銀分析装置 マーキュリー/MA-2000システム
  • VPD組込型全反射蛍光X線分析装置TXRF-V300
2002年
4月
33巻 1号 通巻77号
  • 理学電機の想い出
  • CCD X線構造解析装置による分子性伝導体微小結晶の構造研究
  • 小角X線散乱による糖鎖の溶液中における構造解析
  • 多層膜X線反射率シミュレーションプログラム
  • 放射光からの軟X線を用いた材料分析
  • X線吸収分光のフロンティア
  • Spring-8ベンディングマグネットビームラインでのXAFS
2001年
10月
32巻 2号 通巻76号
  • アジア結晶学会の発展をめざして
  • X線結晶構造解析を基にした大環状ポリアミン超分子化学研究の飛躍的新展開
  • 低温ヘリウムガス吹き付け型結晶冷却装置の開発
  • X線三色カメラ‘Trinity’とX線暗視野カメラ‘Owl’
  • X線-DSCの薬学領域への応用
  • 国立科学博物館における鉱物学的研究
  • 全反射蛍光X線分析(TXRF)法による半導体表面汚染分析
  • 東京工業大学におけるX線回折研究の歴史
  • 小型反応熱量計スーパーCRC、ミニCRCの発売開始
  • Thermo Plusシリーズ昇温脱離ガス分析装置HPT-TDS
4月
32巻 1号 通巻75号
  • 光屋の目で見たX線分析技術 ―機器開発の流れから―
  • 磁性流体表面にあらわれる秩序
  • コラーゲンの三重らせん構造
  • 装置関数との畳み込みによる粉末回折ピークのモデルプロファイル関数
  • 単層カーボンナノチューブ束の高温熱収縮
  • 卓上型蛍光X線分析装置ZSXmini―波長分散型で高精度分析を実現
  • 自動合成ワークステーション
2000年
10月
31巻 2号 通巻74号
  • 世界一に燃えていた頃 ―固体衝撃波の中身を覗く―
  • グロー放電発光分析の高感度化と高精度化
  • 多目的パターン・フィッティングシステムRIETAN-2000ユーザーガイド
  • 高温炉を用いたX線回折によるシリコン固液界面形状の“その場観察”
  • マイクロ逆モンテカルロ法によるEXAFS微粒子解析
  • インプレーン光学系による薄膜材料測定とその応用
  • 大阪大学におけるX線解析研究の流れ
4月
31巻 1号 通巻73号
  • 運のめぐり合わせ
  • X線共鳴散乱動力学回折
  • 放射光粉末データによるα型窒化ケイ素の結晶構造精密化
  • 水素吸蔵合金の高圧水素雰囲気におけるin-situ測定
  • X線結晶構造解析を基にした5配位有機ケイ素化合物研究の新展開
  • 微小角入射X線による薄膜のキャラクタリゼーション
  • シリコンデバイスの電気特性とX線による結晶性評価 ―2ステッププロセスの有効性―
  • X線溶液散乱測定装置
  • 高精度・高感度分析を実現した卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置 XEPOS
1999年
10月
30巻 2号 通巻72号
  • 虎の尾を踏む
  • X線反射率法による薄膜の精密構造評価
  • 試料水平型X線反射率測定装置による気水界面高分子組織体のナノ構造解析
  • 高温粉末X線回折測定による水酸アパタイトのRietveld解析
  • 立方晶合金相に見いだされた正20面体対称の原子クラスター
  • X線CTR散乱とX線反射率測定によるIII族窒化物半導体の構造解析
  • 蛍光X線分析の産業廃棄物分析への応用
  • 名古屋大学におけるX線を用いた研究の歴史-応用回折結晶学の事始め(野田稲吉先生の名古屋大学工学部時代)
  • 2次元迅速測定X線回折装置 RINT RAPID
  • X線回折-示差走査熱量同時測定装置 XRD-DSC II
  • 蛍光X線分析装置 ZSXシリーズ
4月
30巻 1号 通巻71号
  • 結晶構造解析の進歩
  • 準安定相二酸化パナジウムA型VO2(A)の構造相転移
  • エネルギー分散型斜入射X線分光法(全反射蛍光・回折と反射率・表面伝搬波)
  • R-AXIS RAPID 使用記
  • MEM/Rietveld法によるフラーレン化合物の精密構造解析
  • 出土考古遺物の材質調査―日本で出土した古代ガラスの研究―
  • 名古屋大学の結晶学事始
  • 薄膜構造評価用X線回折装置 ATX-G
  • Spring-8/X線表面分析装置
  • 四塩化炭素抽出の経験と感覚がそのまま生かされる新溶媒を使用する油分濃度計 OIL-20A
  • ハロゲン元素の分析を可能にしたICP発光分析装置
1998年
10月
29巻 2号 通巻70号
  • 実験の極意
  • バーガー教授の時代を顧みて
  • X線回折と材料科学の研究
  • X線回折によるあいまいな高分子構造の解析―イメージプレートの利用―
  • SiO2/Si基板上の多結晶Al,Cuスパッタ膜の放射光を用いたマイクロラウエ回折
  • 南部九州、肥薩火山岩類のマグマの成因に寄与した“堆積物成分”について-Rh/WデュアルX線管法を用いた低希釈率ガラスビード法による岩石の主成分、微量成分および希土類元素分析の例-
  • 相転移とガラス転移の交錯
  • 分析会社でのX線分析
  • 低分子用X線単結晶構造解析装置 R-AXIS RAPID
  • Windows版単結晶構造解析ソフトウェアteXsan(PC teXsan)
4月
29巻 1号 通巻69号
  • 回折装置の思い出-理学電機との関わりを中心として-
  • ダンベル型フラーレン二重体C120の合成とX線結晶構造解析
  • パソコンを使った包接結晶のデータベースの構築
  • X線エバネッセント回折法による金属表面の研究
  • 波長分散型蛍光X線分光器を用いた新しいXANES測定法(XEFS)
  • ブリケット法を用いたXRFによる土壌中の微量元素分析―環境評価を目的として―
  • 林 威先生を偲んで-仕事もその上に並べ、時代変化を背景として顧みる-
  • X線回折装置 RINT2000/PCの最新光学システムと多目的試料台
  • 全反射蛍光X線分析装置 TXRF300
  • 薄膜評価用蛍光X線分析装置 Wafer X 300
  • 可搬型蛍光X線分析装置 Portarix
  • 野外携行型高機能水銀測定装置 MERCURY SNIFFER/PM-2
1997年
10月
28巻 2号 通巻68号
  • マグネタイトの謎 ―低温相の構造―
  • X線回折と電子回折
  • 1,3-ジアミノ-2-ヒドロキシプロパン-N,N,N',N'-四酢酸を架橋配位子とするFe(III)およびRu(III)二核錯体の構造と磁気的性質
  • 酵素リゾチームおよびその変異体のX線解析
  • 蛍光X線分析装置RIX3000による珪酸塩岩石中の主成分元素および微量元素の定量分析
  • 軽原子で構成される分子の絶対配置の決定―CuKα線による精密な構造解析―
  • 熱分析・熱量測定を中心とした相変化研究の回顧(1938-1982)
  • 理学/ADSC CCD搭載単結晶自動X線構造解析装置 RASA-7 Quantum
4月
28巻 1号 通巻67号
  • 飛んで火にいる夏の虫
  • 平行ビーム法と高分解能放射光粉末回折
  • 超臨界金属流体の構造
  • 高温X線回折装置の開発
  • WKαX線回折によるFe3O4の電子レベルでの構造
  • 小角広角X線回折装置
  • 蛍光X線分析装置 RIX3100
  • 蛍光X線磁気ディスク専用機
  • 薄膜評価用グロー放電発光分析装置 GDS3870
  • 岡谷美治君を偲んで
1996年
10月
27巻 2号 通巻66号
  • 「X線と原子配列決定」この50年間の結晶構造解析の進歩―自分の専門を消す努力をした一人の科学者の思い出―
  • 低温高圧下の多目的X線回折装置
  • 炭酸アパタイトの結晶構造解析
  • 蛍光X線による粘土鉱物の迅速分析
  • 耐火物の蛍光X線分析におけるJIS規格とISO規格の決闘
  • 4軸回折計による格子定数の測定値と2θの関係-低角で求めた格子定数は本当に角度に依存するか?-(理学電機AFCによる測定の場合)
  • デスクトップX線回折装置 MiniFlex+
  • 全自動蛍光X線分析装置 RIX3001
  • HAMPTON RESEARCH 社Cryocrystallography用キット CrystalCap System
  • 仁田スクールの回想
4月
27巻 1号 通巻65号
  • ラウエ先生の思い出
  • 「ブラックボックスになった結晶解析を考える」
  • 安定構造から不安定構造の解析へ
  • SR光励起によるX線光電子分光
  • 二つのRIETAN―プログラム開発余話
  • 超原子価ペルオキシヨーダンの開発とX線結晶解析
  • W/Si多層膜製2重湾曲モノクロメータを用いた点集束型カメラによる迅速小角X線散乱測定
  • 200kV回転対陰極形高エネルギーX線発生装置
  • 全反射蛍光X線分析装置 TXRF 3750
  • 薄膜評価用蛍光X線分析装置 Wafer/Disk Analyzer 3640
1995年
10月
26巻 2号 通巻64号
  • X線分光学の「ルネッサンス」
  • レントゲン線発見100年とX線分光(装置)の回顧
  • SR斜入射蛍光X線/反射率法―新しい薄膜のキャラクタリゼーション法―
  • 有機化学プロジェクト展開へのX線結晶解析の有効利用
  • 超短波長X線を利用した重元素試料の蛍光X線分析
  • 微小部X線回折装置による自動化応力マッピング
  • 高速X線回折装置 R-AXIS IV
  • MiniFlex+ 理学デスクトップX線回折装置
  • 軽元素対応全反射蛍光X線分析装置 SYS 3700LE
  • ポータブルX線透視装置 RIS-200FS 蛍光スクリーンX線テレビシステム
  • レントゲンと現代の医療
4月
26巻 1号 通巻63号
  • 気体放電管からX線星まで(X線発見100年の年に寄せて)
  • 私本レントゲン記
  • 新しい迅速X線回折装置による結晶構造解析
  • 粘弾性測定と高分子材料における最近の応用
  • X線微細構造入門(その2)
  • ガラスビード法のための「標準試料作成自動評価システム」と試料作製
  • 超強力X線発生装置 Supre-X1.5A
  • オンライン多元素同時型蛍光X線分析装置 サイマルティックス10S、サイマルティックス11S
  • タイムセーバー水銀分析システムRA
  • 動的光散乱式タンパク溶液分子モニター DynaPro-801
  • X線結晶解析と医薬の企業研究
  • ヴィルヘルム・コンラート・レントゲン
1994年
10月
25巻 2号 通巻62号
  • 各大学にミクロ構造研究センターを
  • 結晶表面の局所的原子配列とX線CTR散乱に伴う散漫散乱
  • 多結晶体中の結晶粒子の方位分布観察―集束X線を用いた走査型X線回折顕微鏡/粉末X線回折計―
  • EXAFS実験用超強力X線源の開発
  • ポリマー中の色素凝集体:作成・構造評価・光物性
  • 蛍光X線分析法による古代土器の産地推定法の開発
  • DSCによる澱粉の糊化と老化の熱的評価
  • 2θ/α走査法による単結晶基板上の薄膜測定
  • X線反射率測定装置 GXR2
  • 表面極微量元素測定装置 System 3700
  • 高分解能熱天秤 TAS300 ダイナミックTGシリーズ
  • 液晶表示装置用蛍光灯の水銀量測定装置マーキュリー/TM-2
4月
25巻 1号 通巻61号
  • 物性に即した結晶族群の分類表
  • 高一軸応力下にあるマルテンサイト単結晶の構造解析
  • 蛋白質の結晶化およびその意義と課題
  • 高温融液における局所構造解析用EXAFS装置
  • 京都大学超強力X線回折実験室の6m点集束小角X線散乱装置による高分子固体・溶液の研究
  • X線吸収微細構造入門
  • 示差熱天秤-質量分析計同時測定装置(TG-DTA/GC-MS)による熱分解の分析法と高分子材料への応用
  • 低分子用IP読み取り装置 R-AXIS CS
  • オンラインSi付着量計
  • 動的粘弾性測定装置 E-PLEXOR
1993年
10月
24巻 2号 通巻60号
  • 世界に誇れるソフトの開発を!
  • 極短波長X線のすすめ―高分解能電子密度分布解析システムを開発・テストしてみて―
  • マキシマムエントロピー法による回折データのイメージング―結晶学への新しいアプローチ―
  • DIA-6型キュービックアンビル超高圧発生装置に組み込んだその場X線解析システム-無機化合物の圧力誘起構造相転移の研究への応用-
  • 熱刺激電流の基礎と高分子材料への応用
  • フィルター層による排ガス中の水銀除去に関する研究
  • 微小部X線回折装置 PSPC/MDG 2000
  • 多機能・多目的ゴニオメータUltima+
  • 多元素同時型蛍光X線分析装置 サイマルティックス10,サイマルティックス11
  • グロー放電発光分析装置 GDS-3860
  • 熱刺激電流/緩和マップ分析 TSC/RMA
  • 低分子用IP読み取り装置 R-AXIS CS
4月
24巻 1号 通巻59号
  • 新しい測定装置への期待「物理と化学の掛け橋へ」
  • X線全反射角分光法による酸化物超電導薄膜の評価
  • ラウエ法による超薄膜測定用全反射X線回折計の開発
  • セラミックス微小部のX線応力測定
  • 衝撃変成物質のX線回折法による解析―ダイナミックな開放系で形成された衝撃変成シリカ集合体のX線密度―
  • 微小ビームX線回折と半導体工業におけるその応用:回顧の15年
  • 時分割X線イメージングシステム R-AXIS DS
  • 試料吹付低温装置 (吹付高温装置)
  • 全自動蛍光X線分析装置 RIX 2000
  • 汎用全自動水銀分析装置マーキュリー/SP-3D
  • 交流法熱伝導率測定装置 MP-λ300
  • アジア結晶学連合(AsCA)と第一回アジア結晶学会議(AsCA'92)
1992年
10月
23巻 2号 通巻58号
  • "蛍光X線と光分析の周辺で"
  • グロー放電発光分光分析法とその応用
  • 実験室系のX線源を使用した巨大分子用イメージングプレート自動回折計(R-AXIS IIC) ―回折強度データの収集及び性能評価―
  • 粉末回折法による格子定数の精密測定 ―対称な実験プロファイルと新しい系統誤差補正法―
  • 広帯域EXAFS測定装置の開発と材料評価への応用
  • 超高温X線回折装置の作製と金属間化合物への応用
  • 蛍光X線分析装置による岩石試料の定量分析(II)
  • 回転対陰極形X線源付θ/θゴニオメータシステムTTR
  • X線吸収微細構造解析装置 EXAFS 3000(試料水平蛍光EXAFS)
  • X線スペクトロメータ RIX 1000
  • Douglas Instruments社製タンパク結晶自動作成装置 IMPAX-1
  • 熱電半導体の評価装置
  • 蛍光X線分析の30年 ―理学電機工業株式会社の30年の回顧―
4月
23巻 1号 通巻57号
  • 実験室X線から放射光へ
  • 巨大分子用ワイセンベルグカメラによるX線回折データ収集システム
  • X線二結晶トポグラフィにおける屈折効果
  • 軽元素EXAFS測定用ガス循環式蛍光比例計数管
  • 銅化合物のX線光電子スペクトルと蛍光X線スペクトル
  • 交流通電加熱を用いた新しい熱拡散率測定法の開発と高分子材料への応用
  • 新形自動X線回折装置 RINT 2000シリーズ
  • Si単結晶インゴット方位測定装置
  • ウェーハ面方位全自動測定装置 APGS4
  • 単結晶自動X線構造解析装置RASA-7シリーズ
  • 全自動蛍光X線分析装置 RIX 3000
  • 熱分析装置“サーモフレックス”シリーズTAS-300
  • 宇宙研平行X線光源
1991年
10月
22巻 2号 通巻56号
  • 結晶構造解析との35年を振り返って
  • 高歪みを持つ“夢の化合物”の合成・物性・構造の研究 ―X線結晶構造解析の役割―
  • 半導体超格子の構造解析
  • 抄紙過程における湿紙の物理化学的研究 ―DSCによる湿潤パルプ中の水の研究―
  • 蛍光X線分析法による土器胎土分析の基礎研究 ―試料状態と分析条件に関する検討―
  • “小角散乱測定装置の進歩” ―検出器の差異による測定時間の短縮及び分解能の向上―
  • 結晶コリメータ付高分解能X線回折装置 SLX-1 HRD
  • 単結晶方位迅速測定装置 RASCO-L
  • マルチオートサンプリング熱天秤装置 AUTO-TG-8710
  • 作業環境用水銀ガスモニタ-/EMP-1
  • ソロマット社 TSC/RMAスペクトロメータ販売開始
  • 英国ダグラス・インスツルメント社と蛋白結晶作成装置IMPAXシステムの日本における販売契約を結びました
  • グロー放電発光分析装置(GDS)開発
  • おかげさまで40周年
4月
22巻 1号 通巻55号
  • 粉末X線回折データ検索プログラムについて思うこと
  • 粉末X線回折パターンによるクラスター分析(二酸化マンガン国際標準試料の分類)
  • 超小角X線散乱法
  • RIETAN-今日まで、そして明日から
  • 蛍光X線分析装置による岩石試料の定量分析(I)
  • 多目的型インシデントビームモノクロメータX線回折装置
  • 10インチ用トポグラフイメージングシステム
  • 全自動二結晶法X線回折装置 ADOX
  • 高感度型全反射蛍光X線分析装置
  • 熱分解発生ガス分析装置 TG-DTA/MS
  • 微小焦点X線透視システム MRS-70
1990年
10月
21巻 2号 通巻54号
  • 装置に歴史あり
  • 不斉分子と不斉合成のグラフィックス表示
  • 湾曲型X線位置敏感検出器(PSD)と動的構造研究
  • 粉末回折ファイル:過去、現在、未来
  • イメージングプレートを用いたX線検出システム R-AXIS IICによる回折データ収集
  • 超小角X線散乱装置(USAXS)
  • 多用途型X線トポグラフィシステム
  • 全自動X線光電子分光装置 XPS-7000
  • Setaram/理学 超高温熱膨張計 DHT 2400K
  • フランスinel社と国内総代理店契約を結びました.
4月
21巻 1号 通巻53号
  • 速く、精密に、廉く
  • 固体の光学活性とハウプ法
  • 難しい結晶構造の解析:パラメータ間に強い相関のある場合
  • エネルギー分散型全反射X線回折計の開発と有機蒸着薄膜への応用
  • 高精度ディラトメータの速度制御焼結への応用
  • 薄膜X線回折法について
  • 卓上型2結晶ディフラクトメータ
  • 高精度全自動カット面検査装置
  • オンライン計測・分析機器
  • 高感度元素分析が可能となったICP発光分析
  • 高温形示差走査熱量計 DSC-8270
  • 理学/ランバート人工水晶用加工面方位X線自動測定装置
  • ピッツバーグ コンファレンス(Pittsburgh Conference)開催
1989年
10月
20巻 2号 通巻52号
  • X線工業分析の40年から
  • 実験室でのEXAFS測定装置
  • 高温超伝導放談
  • 蛍光X線分析法による定量分析―実験的補正係数法とFP法―
  • 非酸化物セラミックスの焼結過程の解析
  • X線回折用相対湿度制御装置(ReCX)の開発と粘土鉱物への応用
  • 微小部X線回折法について
  • X線回折試料高温装置シリーズ
  • 大型試料用全自動蛍光X線分析装置“SYS 3272”
  • 卓上型高周波ビードサンプラ
  • 収縮速度コントロール熱膨張計(DRC-1)
  • 磁気シールユニット
  • 超高温度領域における熱分析セタラム社TAG24シリーズ
  • 理学はJobin-Yvon製ICP-AESを販売します.
4月
20巻 1号 通巻51号
  • より深い理解を―X線回折実験の周辺―
  • 粉末回折図形全体を一度に分解する方法(WPPD法)
  • BaO-Y2O3-CuO系の状態図
  • 回転対陰極回折計による高分子X線データ収集
  • 標準試料を必要としない蛍光X線分析法 ―感度ライブラリーを用いたファンダメンタルパラメータ法―
  • 耐食形試料ホルダを用いた水素ふん囲気中でのTG-DTA測定
  • 統合化リートベルト解析システムFAT-RIETANの世界 ―理学版のユーザーへのメッセージ―
  • マッピング機能付X-Yステージ及び全反射コリメータ付湾曲PSPC微小部X線回折装置
  • レーザフラッシュ法熱拡散率測定用基板測定アタッチメント
  • 理学/微小焦点X線透視システムMRS-125
  • RINT1200 グッドデザイン受賞
  • 第2回RIGAKUユーザーズミーティング開催
  • フランスセタラム社と熱分析装置業務提携
1988年
10月
19巻 2号 通巻50号
  • 高分子固体とX線回折―私の場合
  • 蛍光X線分析の文化財への応用 ―青銅鏡の材質分析―
  • X線散乱ラジオグラフィによる実用材料中の結晶構造分布の観察
  • レーザーフラッシュ法における非線形回帰分析と熱拡散率測定
  • X線による単結晶の方位測定
  • PSPC微小部X線応力測定装置
  • X線励起非分散型蛍光X線分析装置 ―ミニXシリーズ―
  • レーザーフラッシュ法熱拡散率測定用薄板測定アタッチメント
  • Rigakuユーザーズミーティング開催
  • XPS-7000工業デザイン賞入賞
4月
19巻 1号 通巻49号
  • X線回折実験の想い出
  • 熱分析の医療への応用 ―石灰化組織の熱分析―
  • X線トポグラフィによるシリコン結晶中の転位挙動のその場観察
  • 融液からの金属の結晶成長の実時間X線回折顕微法観察
  • 32ビットCPU搭載新形X線回折装置RINT1000シリーズ
  • 巨大分子用X線回折装置 R-AXIS II
  • 多元素同時蛍光X線分析装置 ―サイマルティックス8型SYS355Xシリーズ―
  • 新形熱分析装置 TAS 200シリーズ
1987年
10月
18巻 1号 , 2号 通巻48号 合併号
  • 大きな研究テーマ
  • 微小曲げ歪がペンデルビートに及ぼす影響
  • エネルギー分散型全自動逆極点図測定システムの応用
  • DSCによる純度測定法について
  • 全反射蛍光分析法
  • SSD搭載全自動形左右極点図測定装置
  • レーザフラッシュ法熱定数測定装置
  • 原子吸光光度計 A-SPEC 205
  • ごあいさつ
1986年
10月
17巻 2号 通巻47号
  • ファインセラミックスの開発と計測技術
  • 焼結アルミナのX線的弾性定数
  • 芳香族高分子と熱機械測定
  • 理学/迅速形残留オーステナイト定量測定装置(マルチPSPCシステム)
4月
17巻 1号 通巻46号
  • 二次元PSPCの筋肉X線回折への応用
  • 二成分液晶
  • R-SAPI-85 A COMPUTER PROGRAM FOR AUTOMATIC SOLUTION OF CRYSTAL STRUCTURES FROM X-RAY DIFFRACTION DATA
  • RAD-BとMicroprocessor
  • 巨大分子用ワイセンベルグカメラ
  • クラッキー型反射法小角散乱装置
1985年
10月
16巻 2号 通巻45号
  • (巻頭言)
  • X線トポグラフによるシリコンの結晶成長研究
  • X線2結晶ダブルビーム法による格子定数の精密測定
  • 二結晶X線反射トポグラフ法によるGaAs単結晶の微小ひずみ評価
  • Fe系アモルファス合金の脆化とその改善のための指針
  • 理学/超高温非接触熱膨脹計U-HT/NC-DILATOMETER 非接触法による超高温熱膨脹計
  • 理学/迅速形X線応力測定装置 PSPC/MSFシステム
4月
16巻 1号 通巻44号
  • よりよい装置を期待して
  • タンパク結晶学の動向 ―特に分子生物学的な手法からのimpactに関連して―
  • 化学災害の予防と熱分析
  • 蛋白質のHanging-drop法による結晶化
  • 薄膜X線回折装置
  • 理学/Thermal Analysis Station TAS 100
1984年
10月
15巻 2号 通巻43号
  • 切らないで断面を見る
  • 歴博における文化財調査用X線機器
  • 立木年輪測定用可搬型X線CTの開発
  • 高分子の熱刺激過程の熱分析的研究
  • 示差走査熱量計の諸特性と測定上の留意点
  • 弯曲 PSPCマイクロディフラクトメータ
  • 新形 200kV工業用携帯式X線装置
4月
15巻 1号 通巻42号
  • 福島榮之助さんの思い出
  • X線散漫散乱法とその応用研究
  • 高温型示差熱てんびんによる無水セッコウの研究
  • 水晶のα-β相転移および中間相の研究
  • クラッキー型X線小角散乱装置の調整について
  • 新形X線回折装置シリーズ NEW RADシステムについて
1983年
10月
14巻 2号 通巻41号
  • X線回折と化学
  • 天然有機化合物の新しいX線構造解析法―乱数を使って構造を解く―
  • X線回折法による電子密度分布の測定
  • 微生物系の熱測定
  • フラッシュ法による熱定数測定II―熱拡散率測定法―
  • 新形X線回折装置システム(NEW RADシリーズ)
  • 理学/工業用可搬式X線装置 ラジオフレックス160M
  • ストレス-ストレインTMA(SS-TMA)
4月
14巻 1号 通巻40号
  • 誘電体に思うこと
  • ソフト・フォノン相転移の構造解析
  • 誘電体の不整合構造 ―その特徴と起源―
  • 強誘電体グループの相転移と熱量測定
  • 微小部X線回折法について
  • EXAFS測定装置(X線吸収分析装置)
  • デジタル制御自動示差熱天秤
1982年
10月
13巻 2号 通巻39号
  • 分析試料の状態
  • 膨脹性粘土鉱物とX線回折
  • 鉱物の熱分析における2、3の課題 ―とくに炭酸塩鉱物について―
  • 結晶構造のコンピュータシミュレーション
  • フラッシュ法による熱定数測定I ―熱容量測定法―
  • 理学/回転対陰極形強力X線発生装置 ロータフレックスRU-200 Cat.No.4148B2
  • 理学/微小焦点X線検査装置 MRF-150
  • 理学/高感度示差走査熱量計DSC-10A
  • 理学/磁気シールユニット
4月
13巻 1号 通巻38号
  • X線装置の進歩と私の研究
  • 白色X線ペンデルビート法
  • 液体の急冷によるアモルファス合金の形成
  • β相合金のマルテンサイト変態と物性
  • X線積分法によるひずみ場解析
  • X線ディフラクトメトリにおける試料の回転及び振動の回折強度におよぼす影響
  • 理学/分子構造・単結晶構造解析用全自動X線回折計AFC-M
  • 理学/携帯式X線装置ラジオフレックス300EG-S2
  • 理学/熱分析データ処理システム DPS-1
1981年
10月
12巻 2号 通巻37号
  • 私説X線の今昔
  • “X線回折法を用いたセラミックスの構造研究”
  • 省エネルギーとセラミックス ―セラミック繊維質断熱材―
  • 炭化チタンウィスカーの育成とその性質
  • 熱機械分析装置TMAの試料の取扱いについて
  • 理学/マルチチャンネルアナライザ
  • 理学/高エネルギー超強力X線発生装置 RU-1000C2
  • 理学/レーザ法熱定数測定装置
4月
12巻 1号 通巻36号
  • 私の高分子研究とX線回折
  • 小角X線回折法による生体高分子の解析 特に神経髄鞘単位膜内の分子構築
  • 溶液中の荷電粒子の分布―低分子イオン、高分子イオン、ビールス粒子、高分子ラテックスの規則的分布―
  • 生体組織中の水 ―熱分析による病態組織の研究―
  • X線ディフラクトメトリーにおける回折線強度とP/B値
  • 理学/自動X線回折システム RAX-11, -12
  • 理学/データレコーダ
  • 理学/工業用据置式X線装置 ラジオフレックス-350/160
1980年
10月
11巻 2号 通巻35号
  • 構造決定の道:その建設と補修
  • 潜熱蓄熱材料の研究への熱分析の応用
  • 半導体結晶とX線トポグラフィ
  • マイクロディフラクトメータとエネルギー分散型X線分析装置による薄片中の微小鉱物の研究
  • レーザーフラッシュ法による熱物性の測定
  • 熱分析の測定条件について その3 試料容器
  • 理学/X線回折装置RADシリーズ オプション サーチ/マッチアタッチメント
  • 理学/急速加熱示差走査熱量天秤(R・TG-DSC)
  • 理学/据置式X線装置 ラジオフレックス150S形、300形
4月
11巻 1号 通巻34号
  • “新春二つの課題”
  • 非晶質金属構造の特性評価と回折実験
  • 高温融体の熱測定
  • 時分割X線回折法とその応用
  • X線ディフラクトメトリに於ける光学系と分解能および強度
  • 理学/X線用湾曲PSPCシステム位置敏感形検出器
  • 理学/急速加熱示差熱天秤(R・TG-DTA)
  • 理学/X線透視装置(RI-6形・RI-12形)
1979年
10月
10巻 2号 通巻33号
  • 理学電機の50年
  • 最近の粉末X線回折データ検索
  • X線回折の手法(SSDを中心にして)
  • DSCによる生体高分子の研究
  • 熱分析の測定条件について その2 測定ふん囲気
  • X線構造解析システムRASAシリーズ
  • プログラム温度コントローラPTC-10A
  • 自走式超音波連続厚さ測定記録車
4月
10巻 1号 通巻32号
  • 科学技術と開拓者精神
  • 熱分析の一断面
  • X線回折顕微法による氷の研究
  • 新しいエネルギー変換機能材料としての金属水素化物の研究
  • X線ディフラクトメトリにおける回折角の測定
  • 新形X線回折装置 ガイガーフレックスRADシリーズ
  • 自動X線応力測定装置
  • 強力形単結晶自動X線回折装置
  • 2炉体2試料同時測定熱膨脹計
  • 理学/工業用可搬式X線装置 ラジオフレックス470G-B
  • 複2次元記録方式/超音波自動探傷装置
1978年
10月
09巻 1号 通巻31号
  • 復刊に寄せて
  • 理学電機ジャーナルの再刊をよろこぶ
  • 生命科学(ライフ・サイエンス)におけるX線解析の役割
  • 高圧・高温下に於ける高分子のその場研究
  • 熱弾性型マルテンサイト変態の熱力学的研究
  • 熱分析における測定条件の選択について その1 試料の状態と昇温速度
  • レーザ加熱熱定数測定装置
  • 高精度示差熱天秤(差動形TG/DTA)バランスエース
  • 強力X線発生装置ロータフレックスRU-1A
  • 工業用X線透過検査装置 ラジオフレックス250EG-S/200EG-S
  • 超強力X線発生装置ロータフレックスRU-1500
  • 内部加熱法超高圧定量示差熱分析装置
  • 新形X線回折装置