新製品紹介

「RoHS、WEEE、ELV対応スクリーニング」
各種母材に対応可能な携帯型成分分析計を発売

2005年8月23日

1台で合金から種々の母材まで、欧州規制元素のスクリーニングを可能にする、エネルギー分散型蛍光X線分析法を採用した、NITON携帯型成分分析計の最新機種XLt 797RWの販売を開始します。

これは、従来機の性能・機能の大幅向上をはかったもので、種々のプラスチック中の微量規制元素、ゴム系母材、金属母材の規制元素を、1分以内という短時間でスクリーニングすることが可能です。また多量の共存元素が含まれる中で、100ppm以下の規制元素の分析を行なうことも可能です。

新規ソフトの開発により、有機母材のみならず、各種合金中のCdの定量分析が可能となりました。また、ハード、ソフトの改良により、多量の共存元素が存在する場合の、定量正確さの問題を解決しています。プリント基板や難燃性プラスチックにおいては、10,000ppmを超える大量のBrが入れられている場合がありますが、このような場合でも100ppm以下のPb等を測定可能です。さらに、タイヤやパッキング等のゴム系母材においては、通常10,000ppm以上のZnが用いられていますが、Znの影響を心配することなく、100ppmレベルのHg等を測定することができます。RoHS、WEEE、ELV対応が、機器、部品、材料メーカーにとってますます重要課題となる中、同製品は現場で手軽に分析ができ、ご期待に沿えるものと確信いたします。

8月31日(水)から千葉・幕張メッセで開催される2005分析展に出品展示し、同日発売といたします。同シリーズは、リサイクル分野を中心に、その手軽さから発売以来約3年間で180台の納入実績を達成し、現場対応機器として高い評価をいただいております。

主な特長

  • 重量1.7kgで手持ち操作が可能。
  • 1台で、種々のポリエチレン系樹脂、塩ビ系樹脂、金属母材について、RoHS規制元素の分析が可能。
  • 各種合金中のCdの定量分析が可能。
  • 大量の共存元素が含まれる中で微量の規制元素の分析が可能。

装置の外観
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