新製品紹介

全自動多目的X線回折装置「SmartLab SE」を発表

フラッグシップの最新モデルで粉末X線回折装置の新標準を提案

2017年4月3日

この度リガクは、全自動多目的X線回折装置「SmartLab SE*(スマートラボ・エスイー)」を開発し、2017年4月3日より日本・アジア・欧州で販売開始することを発表します。

フラッグシップブランドSmartLabの最新装置、SmartLab SEは、試料水平型多目的X線回折装置Ultimaシリーズの汎用性とSmartLab のガイダンス機能を兼ね備えた粉末X線回折装置の新しいスタンダードで、粉末試料のプロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末X線回折測定を誰でも分かりやすく行えるようにした、全自動多目的X線回折装置です。半世紀に亘って培われたリガクの機械加工技術と、独自の要素技術によって実現した、高精度なゴニオメーターやハイブリッド型検出器HyPix-400 (ハイピックス400)の搭載によりX線回折測定の初心者から上級者までの幅広い要求に対応します。
(SE* =Standard Edition)

SmartLab SEは、SmartLab シリーズに共通のガイダンス機能を備えたソフトウェアSmartLab Studio II(スマートラボスタジオ・ツー)を搭載しています。各アプリケーションに最適な光学系の選択や調整、測定条件の設定・実行はすべて自動で行うため、誰でも簡単に、最高の測定結果を得る事ができます。

検出器は標準で、高分解能・高速1次元検出器 「D/teX Ultra 250 (ディーテックス・ウルトラ250)」とハイブリッド型多次元ピクセル検出器「HyPix-400 (ハイピックス400)」の2種類から選択することができます。D/teX Ultra 250 は高速集中法測定に対応し、広角粉末X線回折プロファイルをわずか数分で測定します。バックグランドレベルを抑えた測定が可能で、微量成分の検出や粉末未知試料の結晶構造解析も容易にする、エントリーモデルに最適な検出器です。一方、HyPix-400は、微小部測定やIn-situ 測定、小角X線散乱、残留応力測定など、材料の配向や粒径などの詳細な試料情報を短時間で得ることができる、上位モデルに最適な検出器です。簡単に0次元/1次元/2次元に切り替えることができるため、アプリケーションに応じて検出器を載せ替える必要はありません。

SmartLab SE では、再現性の高い高精度ゴニオメーターと自動光学系調整機能の搭載により、X線管球の交換後などでも、ゼロ点のずれない測定が行えることが保証されています。また入射側・受光側光学素子を取り外し、再度取り付けた場合の再現性も高く、ダイレクトビーム角度2θ=0°は0±0.005°の範囲に収まることを検証済みです。

主な特長

  • ユーザーガイダンスによる究極の自動化
    ガイダンス機能を備えたソフトウェアSmartLab Studio II が、測定から解析までを支援。リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。
  • 高速1次元X線検出器D/teX Ultra 250
    アクティブチャンネル数256、各チャンネル幅75μm、最大カウントレート106cps/stripの極めて高速な1次元半導体検出器です。
  • ハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400
    受光面積400mm2、空間分解能100μm、最大カウントレート106cps/pixel以上、ゼロバックグラウンドノイズのスペックを備えた、2次元半導体検出器です。
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