新製品紹介

下面照射型で、アプリケーション自動設定機能を搭載
蛍光X線分析装置の最新機種「ZSX Primus IVi 」を発表

2019年9月4日

この度リガクは、定量アプリケーション自動設定機能を備えた走査型波長分散蛍光X線分析装置「ZSX Primus IVi (ジーエスエックス プライマス フォー アイ)」を9月4日より販売開始します。

本装置は、定評ある下面照射タイプの汎用モデル「ZSX Primus(ジーエスエックス プライマス)」の後継製品です。装置の機能・性能を大幅に向上させると共に、アプリケーション自動設定機能やヒューマンエラー防止機能を備えるソフトウェア「ZSX Guidance(ジーエスエックス ガイダンス)」など、これまでのリガク蛍光X線分析のノウハウの全てを搭載しています。上面照射装置の「ZSX Primus IV(ジーエスエックス プライマスフォー)」同様、初心者でも正確な分析結果を得られるようサポートします。
波長分散型蛍光X線装置は、エネルギー分散型に比べて検出感度およびスペクトル分解能が高く極微量の元素を非破壊で検出します。下面照射タイプは、特に液体、合金、メッキ板などの試料に対して、現場での効率的な装置稼働に貢献します。

ZSX Primus IViは、ZSX Primus IV とプラットフォームを共有化したことで、両機種および同じ機種間でのアプリケーション共有化が可能です。

ZSX Primus IViは、9月4日から6日に幕張メッセで開催されるJASIS 2019に出展します。

ZSX Primus IViの主な特長

  • 下面照射型
    試料の下面からX線を照射するため、液体試料は試料フィルムを張った試料セルに注ぎ込むだけ、デイスク状の合金、メッキ板、ガラス板などの塊状試料は測定面を下にしてそのまま試料ホルダーに置くだけで容易に測定ができます。加圧成形が困難な粒子状試料、少量試料、破片状小径試料等に対しては、試料フィルムを張った試料セルのフィルムの上にそのまま装填でき、貴重な試料に対して試料処理を極力避けた測定も容易になります。
  • ZSX Guidance
    標準試料を用いた検量線作成において、試料情報をインプットし、専用の自動予備測定を行えば、分析線・光学系の設定から共存元素補正、重なり補正が自動的に設定されます。蛍光X線分析技術に関するデータベースと高度な判断機能が組み込まれたソフトウェアが専門家並みの働きをすることで、はじめて実現しました。ビジュアルな画面を使って高度な分析を実行できるだけでなく、初心者にも優しいソフトウェアです。
  • 高速分析
    X線計数システムへのデジタル・マルチチャンネル・アナライザー(D-MCA)の搭載により、高速デジタル処理による高計数率域までの計数直線性を実現しました。また、ゴニオメーターの走査速度の高速化や、真空度制御の高速化を図った結果、スループットは前装置と比較して、定量分析で20%、定性分析で40%向上しました。
  • WDXシステムによるポイント・マッピング分析
    r-θ駆動の試料ステージを採用しました。内蔵の高精度カメラで分析部位を確認しながら、波長分散方式の優れたスペクトル分解能を生かし、超軽元素まで100マイクロメートルのマッピング位置分解能による正確なポイント・マッピング測定が可能です。
  • 軽元素用ガスシールド型プロポーショナルカウンター
    新開発のガスシールド型検出器「SPC LE」により、検出器用ガスボンベの設置を不要にし、分析におけるガス排出もなく、装置設置条件が緩和されました。
  • アプリケーションパッケージを拡充
    主に海外のお客様から要望の強かった産業別アプリケーションパッケージを拡充しました。 検量線を出荷時に格納する「プリキャリブレーションパッケージ」や、標準試料と分析条件がセットになった「アプリケーションパッケージ」、特定品種に特化したSQX(スタンダードレスFP法)用「マスターマッチングライブラリー」などを取り揃えて、ユーザの分析業務のスタートアップを支援します。
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