イベント情報

「東京大学・リガク産学連携室セミナー」 

       (第16回リガク分析セミナー) のご案内


最新の単結晶X線構造解析「半導体検出器が可能にする新しい測定」のご案内

この度、X線による構造解析にスポットをあて最新の単結晶X線構造解析の様々な測定・解析技術についてセミナーを開催する事といたしました。

X線源や検出器に関する近年の要素技術の発達により、50ミクロン以下の小さな結晶でも構造解析が可能となり、加えて放射光では、世界標準となっている半導体検出器が実験室用装置に搭載されたことで、更なる迅速化・高精度化が可能となりました。しかしながら、装置の高度化につれ、今まで測定が不可能であった試料も測定対象となり、解析が困難な試料に直面する機会が増えている様です。

本セミナーでは、これら解析困難な試料の分析を行うためのノウハウを中心に様々な測定例を交えてご紹介させて頂きます。ご多忙の折とは存じますが、ぜひご参加くださいますようお願い申し上げます。

会期
2013年12月18日(水) 13:00〜16:50  (受付:12:30〜)
会場
東京大学 浅野キャンパス 武田先端知ビル5F 武田ホール  Google MAP
共催
東京大学・リガク産学連携室
プログラム
  •  開会のご挨拶
  •  基調講演
     ・「結晶のハンドリングとマウント、高精度構造解析」
  •  半導体検出器を搭載した単結晶X線構造解析用システムのご紹介
  •  基調講演
     ・「checkCIFにおけるAlertの対処法」
  •  データ測定・処理ソフトウェアCrystalClearの新機能のご紹介
  •  構造解析ソフトウェアCrystalStructureの新機能のご紹介
  •  閉会のご挨拶
  •  懇親会
参加費
無料
定員
60名(予定)
詳細
お申し込み
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