イベント情報

「リガク/X線小角散乱セミナー」  のご案内


最新のX線小角散乱測定装置とアプリケーションのご紹介 最新のX線小角散乱測定装置とアプリケーションのご紹介

この度、北九州市立大学 櫻井和朗教授に特別講演を賜り、X線小角散乱のセミナーを開催する運びとなりました。合わせまして、ユーザー様の導入事例のご紹介、弊社のX線小角散乱測定関連装置や新しいアプリケーションの可能性についてもご紹介させていただきます。

会期
2014年 2月27日(木) 13:15〜16:45  (受付:12:45〜)
会場
TKP大阪梅田ビジネスセンター 9階(カンファレンスルーム9B)  Google MAP
   ※TKP大阪梅田駅前ビジネスセンターは別施設になりますのでご注意下さい。
プログラム
  •  開会のご挨拶
  •  特別講演 「DDSナノ粒子の精密なキャラクタリゼーション」
                         〜放射光、SAXSを用いて〜
  •  GIFT法って何だろう?
  •  X線小角散乱装置の導入事例
  •  ナノスケールX線構造評価装置"NANO-Viewer"と最新アタッチメントのご紹介
  •  全自動水平型多目的X線回折装置"SmartLab"による小角・超小角散乱測定
  •  高分解能3DX線顕微鏡 "nano3DX"のご紹介
  •  情報交換会
参加費
無料
定員
50名(予定)
詳細
プログラム・申込書(PDF:295KB)
お申し込み
■ 申し込み受付は、終了いたしました
申込書で必要事項ご記入の上、FAX又はe-mailにてお申し込みください。
FAX:072-694-5852
e-mail:osk-www@rigaku.co.jp
申込締切
2014年 2月24日(月)  ※ 受付は、終了いたしました
お問い合わせ窓口
株式会社リガク  大阪支店
TEL:072-696-3387