イベント情報

第76回 応用物理学会秋季学術講演会のご案内


会期
2015年 9月13日(日)〜16日(水)
会場
名古屋国際会議場
愛知県名古屋市熱田区熱田西町1-1
講演
9/14(月)14:45 〜15:15   [14p-1B-4]
「X線回折による機能性酸化物薄膜の評価」
X線回折法やX線反射率法などの様々な評価技法を用い,最先端の機能性酸化物薄膜の評価を行った事例を紹介します。
(シンポジウム【酸化物半導体の評価技術】[14p-1B-1〜9])
主催者サイト

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「X線回折による機能性酸化物薄膜の評価」 [14p-1B-4]
講演資料 (PDF:3,822KB)

■講演資料(スライドPDF)の解説となるテクニカルノートが
   リガクジャーナル 2016年春号・和文に掲載されました。
 

   (次世代機能性酸化物薄膜材料の評価 〜2次元検出器を活用して〜
ISSN 1883-8456 
CODEN RJIAAK 

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