学会・講演会等発表

学会・講演会等発表

学会・講演会などでの発表をご紹介いたします。

2006年12月13日〜12月16日 第7回ナノ分子エレクトロニクス国際会議(ICNME2006)

場所
神戸国際会議場
 
発表セッション名
ポスター
発表日時
2006/12/13
講演タイトル
Molecular Orientation of Vacuum-Deposited Films of Cu-Phthalocyanine
講演概要
Organic thin films have opened a new horizon for technological breakthrough of molecular electronics. Fabrication techniques for well-oriented ultra thin films are very crucial. Copper phthalocyanine (Cu-Pc) is a highly colored macrocycle having a copper ion at the center, which has been widely known as a material for solar cell. Electron spin resonance (ESR) provides an elucidation method of structure of materials containing ?-electron and transition metal ions. For organic thin film, ESR has been used to study molecular ordering [1-3]. In the present study, we will report on elucidation of the structure of vacuum deposited (VD) films of Cu-Pc by X-ray diffraction (XRD) and ESR. Special efforts are paid on the magnetic properties, in particular, spin chain system in the VD films by ESR.
 
発表セッション名
ポスター
発表日時
2006/12/13
講演タイトル
An ESR Study of Thin Films of Poly-3hexyl-thiophene: Molecular Orientation and Magnetic Interactions
講演概要
Poly-thiophene has been known as representative organic semiconductors whose band gap is approximately 2.0 eV [1]. Manufacturing the electronic devices of polythiophene is particularly difficult because of its insolubility and infusibility. This is due to the strong molecular interactions between chains as well as the rigidity in the polymer chains in polythiophene. Solubility and fusibility has been realized by the introduction of alkyl chains in the third position of the thiophene ring that weakens the interaction between polymer chains [2]. Poly-3-hexyl-thiophene (P3HT) has been used for electronic devices [3]. In the present study, we fabricated thin films of P3HT using the cast method. We will report elucidation of the film structure by X-ray diffraction (XRD) and electron spin resonance (ESR) spectroscopy.

2006年11月30日 第12回セラミックス関係分析技術者研究発表会

場所
東京工業大学「百年記念館」フェライト会議室
 
発表日時
2006/11/30
講演タイトル
卓上型蛍光X線分析装置による軽元素分析
講演概要
卓上型蛍光X線分析装置 Priminiによるセメントおよび岩石の分析例を紹介します。

2006年11月21日〜11月23日 AsCA'06/CrSJ

場所
エポカルつくば
 
発表セッション名
9. Nanotechnology: Surface and interface
発表日時
2006/11/23
講演タイトル
Grazing incidence x-ray scattering for characterizing advanced nanomaterials
講演概要
表面に作られたナノ構造を実験室X線装置(Rigaku SuperLab)による、微小角入射X線小角散乱によって評価したいくつかの結果を報告します。磁性ナノ粒子の粒子サイズと結晶子サイズの比較や、表面ナノ加工によって作った周期的構造における平均形状の詳細な解析など、実験室X線源を用いても、十分な精度で表面ナノ構造を評価することが可能です。

2006年11月8日 表面技術協会 秋季セミナー

セミナータイトル
”RoHS指令に対応する微量分析方法・機器の最新動向”
場所
東京理科大学「森戸記念館」第一フォーラム室
 
発表日時
2006/11/08
講演タイトル
WDXRFによる金属材料中の有害元素および六価クロムの分析
講演概要
WEEE/RoHS指令では、多くはプラスチックの分析が行なわれてきましたが、ELV指令でWDXRFによる金属材料の分析の重要性が注目されています。また、標準WDXRFによる六価クロムの分析についても紹介します。

2006年10月20日〜10月21日 第42回X線分析討論会

場所
明治大学生田校舎
 
発表日時
2006/10/20
講演タイトル
小型全反射蛍光X線分析装置による燃料電池排水の分析
講演概要
固体高分子形燃料電池(PEFC)の寿命問題は、実用化のための重要な課題です。劣化のメカニズム検証のために、NANOHUNTERを用いてPEFC排水の分析を行った結果を報告します。

2006年10月7日〜10月9日 日本熱測定学会 第42回熱測定討論会

場所
京都大学工学部物理系校舎および百周年時計台記念館
 
発表セッション名
生体・医薬・食品
発表日時
2006/10/07
講演タイトル
小角X線散乱・広角X線回折−DSC同時測定装置による結晶性油脂の相転移・融解挙動の測定
講演概要
トリパルミチンなど基礎的結晶性油脂の複雑な相転移・融解・結晶化挙動を実験室でも十分測定できるようになりました。これらの転移挙動と熱拡散率測定結果をあわせて対比・検討しました。(東工大 橋本寿正先生、森川淳子先生との連名発表)
 
発表セッション名
熱測定・熱物性ジョイントセッション
 “薄膜・マイクロ/ナノ構造の物性と測定”
発表日時
2006/10/07
講演タイトル
高温X線回折法を用いた薄膜の熱膨張挙動の測定
講演概要
薄膜X線回折装置に高温アタッチメントを組み合わせて、Cu配線薄膜試料の基板に平行および垂直方向な面の膨張・収縮挙動、その異方性、ヒステリシスなどを測定しました。
 
発表セッション名
熱測定基盤
発表日時
2006/10/08
講演タイトル
光イオン化質量分析法を用いた加熱時発生ガス分析装置の開発
 −原理と特長−
講演概要
質量分析計のイオン化源にVUV光を用いた加熱時発生ガス光イオン化質量分析法(EGA-PIMS)を新規に開発しました。光イオン化(PI)法では、分子に過剰なエネルギーを与えることのなくソフトにイオン化することができ、フラグメントフリーの良好なMSスペクトルを確認しました。EGA-PIMSの原理と特長ならびに有効性を論議します。
 
発表セッション名
熱測定基盤
発表日時
2006/10/09
講演タイトル
光イオン化質量分析法を用いた加熱時発生ガス分析装置の開発
講演概要
従来の電子衝撃イオン化(EI)源を備えた加熱時発生ガス質量分析法EGA-EIMSを有機ガス混合系に用いると各成分の分子イオンと解裂イオン同士が互いに重なり合う為、解析がより困難となります。VUV光源によりソフトイオン化する加熱時発生ガス光イオン化質量分析法(EGA-PIMS)を新規に開発しました。従来のEGA-EIMS結果と比較して、その有効性を議論します。
 
発表セッション名
熱測定基盤
発表日時
2006/10/09
講演タイトル
加熱時発生ガス光イオン化質量分析法の応用
講演概要
ポリマーの熱分解の多くは、加熱時に数十種類ものガスが同時に分解生成するため、従来の電子衝撃イオン化(EI)源を備えたEGA-EIMSでは、混合成分の解裂イオンが互いに重なり合い解析を困難としています。ソフトイオン化技術に基づいて新規に開発した加熱時発生ガス光イオン化質量分析法(EGA-PIMS)をポリマーに応用し、従来のEGA-EIMS結果と比較して、その有効性を議論します。
 
発表セッション名
熱測定基盤
発表日時
2006/10/09
講演タイトル
水蒸気雰囲気下でのポリマーの熱分解
講演概要
高温多湿の環境下で使用される材料では湿度の影響は無視できないため、湿度コントロール下での熱分析を行い評価することが必須となります。本報告では耐熱ポリマーの代表であるポリカーボネートに焦点を当て、湿度コントロール下でのTG測定を行い湿度に対する熱分解挙動の変化について考察します。

2006年9月23日〜9月26日 日本物理学会2006秋季大会 物性領域

場所
千葉大学 西千葉キャンパス
 
発表セッション名
領域9ナノチューブ・ナノワイヤ・結晶成長
 講演番号 25aYC-11
発表日時
2006/09/25
講演タイトル
有機グラフォエピタキシーの基板依存性から見た成長機構
講演概要
電子線リソグラフィ法により作成されたサブミクロンスケールの微細加工パターンを有する基板上に、有機薄膜(sexithiophene)を成長させ、その配向性や結晶性をIn-Plane回折により評価しました。

2006年9月8日〜9月10日 第45回日本油化学会年会

場所
東京理科大学 野田キャンパス
 
発表セッション名
界面化学(物性)
講演タイトル
TAGの相転移・結晶化挙動の広角X線回折および小角X線散乱−熱分析同時測定
講演概要
広角X線回折−DSC及び小角X線散乱−DSC同時測定装置を用いて、基礎的結晶性油脂の複雑な相転移・融解・結晶化挙動を測定し、それらの挙動と熱拡散率測定結果と対比しました。(東工大橋本寿正先生、森川淳子先生との連名発表)

2006年9月1日〜9月4日 第10回ヨーロッパ粉末X線回折コンファレンス(EPDIC10)

場所
スイス ジュネーブ
 
発表セッション名
Structure determination from a single powder diffraction pattern
発表日時
2006/09/02
講演タイトル
CRYSTAL STRUCTURE STUDY OF CHLOROTHALONIL BY X-RAY POWDER DIFFRACTOMETRY
講演概要
温度変化と共に相転移を起こすことが知られているchlorothalonilに関して、粉末X線回折法を用いて、その各結晶相の構造解析を行った結果を紹介します。

2006年8月29日〜9月1日 2006年(平成18年)秋季 第67回応用物理学会学術講演会

場所
立命館大学びわこ・くさつキャンパス(滋賀県草津市)
 
発表セッション名
6 薄膜・表面
 6.3 酸化物エレクトロニクス
発表日時
2006/08/30
講演タイトル
アモルファスITOスパッタ膜を加熱した際のガス発生と結晶化
 
発表セッション名
6 薄膜・表面
 6.5 表面物理・真空
発表日時
2006/08/30
講演タイトル
微小角入射X線小角散乱によるSi(113)面上Geナノワイヤー構造の評価
講演概要
SPring-8に設置されたATX-Gゴニオにより、シリコン基板中に埋め込まれた、Ge ナノワイヤーの3次元的な構造を明らかにすることができました。
 
発表セッション名
10 有機分子・バイオエレクトロニクス
 10.1 作成技術
発表日時
2006/08/30
講演タイトル
有機グラフォエピタキシーに及ぼす基板周期構造のピッチの影響‐
講演概要
サブミクロンスケールの微細加工パターンを形成した基板上に成長させた有機薄膜(sexithiophene)試料の配向性や結晶性をIn-Plane回折により評価しました。微細加工パターンの周期が変わることで有機薄膜の配向性に影響することが判りました。
 
発表セッション名
11 半導体A(シリコン)
 11.4 配線技術
発表日時
2006/08/30
講演タイトル
放射光を用いたポーラスlow-k膜の小角散乱測定
講演概要
さまざまな種類のポーラスlow-k膜の小角散乱測定を行い、空孔サイズ解析を行いました。
 
発表セッション名
合同セッションK
 酸化亜鉛系機能性材料
発表日時
2006/08/31
講演タイトル
PLD法により作製したITO/AZO積層透明導電膜

2006年7月28日 第1回マルチビームテクノロジー「生命科学を目指した先端計測技術」

場所
独立行政法人 理化学研究所 鈴木梅太郎記念ホール
 
発表日時
2006/07/28
講演タイトル
高輝度2D-SAXSが拓く新しい材料評価
講演概要
in-vivoとin-vitroの関係を結びつけるべく高速、高輝度のX線散乱装置の有効性が認識され始めています。
細胞壁を構成する脂質膜は熱感受性DDSの殻としても用いられて久しいですが、より効果的な設計をin-vitroで行い開発のスピードアップを計るために2D-SAXSは有効な手段となることなどを紹介します。

2006年7月27日 日本熱測定学会講演会-産業における材料開発と熱の諸問題-

場所
東京渋谷 投資育成ビル
 
発表日時
2006/07/27
講演タイトル
薄膜電子材料のX線回折による熱膨張・収縮挙動の測定
講演概要
薄膜用X線回折測定装置にドーム型高温アッタチメントを組み合わせて、薄膜試料の基板に平行および垂直な面の膨張・収縮挙動や異方性、ヒステリシスなどを測定した結果を紹介します。

2006年7月9日〜7月14日 第13回XAFS国際会議(XAFS13)

場所
Stanford University, Stanford, CA, U.S.A
 
発表セッション名
ポスター
発表日時
2006/07/12
講演タイトル
REX2000 Version 2.5: Improved DATA handling and enhanced user-interface
講演概要
XAFS analysis can be applied to various fields such as material science, environmental study, biological science, etc. and is widely used for characterization in those fields. In the early days that XAFS technique was started to be used, scientists wrote their own code for XAFS data analysis. As XAFS technique became very popular and XAFS community grew big, a several analysis code or package had been developed and submitted for people to use. The REX2000 is one of those XAFS analysis packages, which is commercially available. Counting up >from its predecessor "REX", REX2000 has been used for more than 15 years in XAFS society. From the previous modification in 2003, a major change was made in this year of 2006. For a dynamical study of advanced material, many XAFS DATA were measured (quick XAFS and in-situ XAFS) and hundreds of DATA sets need to be processed. The REX2000's DATA handling is improved to cope with those huge volume DATA at once and report the fitting result as CSV file. Well-established user-interface is enhanced so that user can customize initial values for data analysis and specify the options through graphical interface. Many small changes are made and described in this paper.
 
発表セッション名
ポスター
発表日時
2006/07/13
講演タイトル
Chemical speciation of Chromium in Drilling Muds
講演概要
Drilling muds are made of bentonite and other clays, and/or polymers, mixed with water to the desired viscosity. The drilling muds do 1. Lubricate the drill bit, bearings, mud pump and drill pipe, particularly as it wears against the sides of the well when drilling deviated wells around corners 2. Provide hydraulic pressure to the motor which drives the drill bit at the bottom of the hole 3. Clean and cool the drill bit as it cuts into the rock and more and more in oil and gas wells. As described here drilling muds plays important role in drilling. Without them, corporations could not drill for oil and gas and we would have hardly any of the fuels and lubricants considered essential for modern industrial civilization. There are hundreds of drilling muds used and some kinds of drilling muds contain chromium. The chemical states of chromium in muds have been studied carefully concerning to the environmental influence. Chromium (Cr) is the seventh most abundant element on the earth. It occurs in several oxidation states ranging from Cr2- to Cr6+, with the trivalent and hexavalent states being the most stable and common in terrestrial environments. Chromium can be both beneficial and toxic to animals and humans depending on its oxidation state and concentration. At low concentration, Cr3+ is essential for animal and human health. Unlike Cr3+, Cr6+ is a potent, extremely toxic carcinogen and may cause death to animals and humans if ingested in large doses. Therefore it is extremely important to know the chemical forms of chromium in drilling muds.

2006年7月9日〜7月13日 SAS2006 第13回小角散乱国際会議

場所
国立京都国際会館
 
講演タイトル
Bonse-Hart type GISAXS for characterizing microfabricated wafers
講演概要
SuperLabで実現される超高分解能In-Plane X線小角散乱測定により、サブミクロンスケール(ピッチサイズ;400nm〜800nm)の微細加工パターンの周期構造を評価しました。
 
講演タイトル
GISAX analysis of self-organized Au nanoparticles fabricated by molecular beam epitaxy
講演概要
SPring-8に設置されたATX-Gゴニオにより、シリコン基板上の金微粒子の形状や高さ評価を行い、GISAX法が極めて有効であることがわかりました。
 
講演タイトル
Structural Study for Ge Nanowires on Si(113) by Grazing Incidence X-ray Scattering
講演概要
SPring-8に設置されたATX-Gゴニオにより、シリコン基板中に埋め込まれた、Ge ナノワイヤーの3次元的な構造を明らかにすることができました。
 
講演タイトル
In-plane SAXS studies of highly ordered nano-phase separated films with hexagonally arranged cylinder
講演概要
二次元検出器を搭載した SAXSシステムを用いると、ナノスケールオーダーでの試料平行方向の情報と垂直方向の情報を1回の測定で同時に調べることが可能です。従って薄膜の3次元構造の解明に魅力的な測定手法と言えます。なお、この手法は今まで放射光施設でのみ実現可能でしたが、これをラボ機で実現可能としました。
 
講演タイトル
Protein solution SAXS with Laboratory X-ray sources
講演概要
FR-Eを搭載したSAXSに試料搬送自動化ユニットを搭載したシステムを用い、結晶化の叶わないタンパク質を測定し、その外形の構造解析を行いました。なお、この試料自動搬送システムは放射光施設に搭載可能です。
 
講演タイトル
2D - SAXS / WAXS / DSC simultaneous measurement for phosphorus lipid phase transition
講演概要
リアルタイム二次元検出器を搭載し、かつ透過型DSCを備えたSAXSシステムを用いてリン脂質の温度による構造変化を秒単位の測定により詳細に調べました。DSCチャートとSAXSプロファイルの関係から相転移を明確に判断することが可能となります。また、本システムにおいてはDSCとWAXSとの同時測定も行い初期相転移である側鎖にかかわる構造変化についても観測を行い、構造変化の総合的な評価を目指しました。

2006年7月5日〜7月7日 第25回電子材料シンポジウム

場所
静岡県伊豆の国ホテルサンバレー富士見
 
発表セッション名
Si Process
発表日時
2006/07/07
講演タイトル
高温X線回折法を用いたNiSi薄膜の解析
講演概要
Si基板上に積層されたNiSi薄膜の温度変化に伴う挙動を高温X線回折法を用いて調べました。In-PlaneおよびOut-of-Plane測定を行うことにより、異なる面方向の格子面の変化を観察しました。

2006年5月19日〜5月21日 ナノ学会第4回大会

場所
京都大学百周年時計台記念館
 
発表セッション名
微粒子・ナノ構造(有機系、理論等) PS1-54
発表日時
2006/05/19(金)13:00〜15:45
講演タイトル
X線小角散乱を用いた粒径分布解析
講演概要
X線小角散乱法は、約100 nm以下のサイズ分布を評価することができる手法であり、特に1〜10 nm程度のサイズ分布は、他の手法に比べて精度の高い解析を行うことが可能です。我々は、X線小角散乱を用いて、異なる保護基を有するいくつかの金ナノ粒子の粒径分布を解析し、X線小角散乱による結果が、TEMによる結果と良い一致を示すことを見出しました。
 
発表セッション名
微粒子・ナノ構造(無機系) PS2-48
発表日時
2006/05/20(土)9:30〜12:30
講演タイトル
X線小角散乱法とX線回折法によるZnO超微粒子の評価
講演概要
X線小角散乱法とX線回折法によって、溶液中に分散したZnO超微粒子の平均粒径と結晶子サイズに関して評価を行いました。平均粒径と結晶子サイズがほぼ等しいことから、一粒子は単結晶であるとわかりました。

2006年5月24日〜5月26日 第55回高分子学会年次大会

場所
名古屋国際会議場
 
発表セッション名
高分子構造・高分子物理
発表日時
2006/05/24
講演タイトル
小角X線散乱法とDSCの同時測定によるスチレン系ブロック共重合体の相構造の評価
講演概要
熱可塑性スチレン系ブロック共重合体の相構造の変化をDSCと小角X線散乱(NANO-Viewer)との同時測定により評価しました。
 
発表セッション名
生体高分子
発表日時
2006/05/26
講演タイトル
XRD-DSCによるポリマー中の氷晶形成挙動と生体適合性の関連
講演概要
生体適合性のあるPMEA及び類似の構造ながら生体適合性の劣るPoly(2-hydroxyethyl methacryrate, PHEMA) について、低温でのX線回折―DSC同時測定装置(XRD-DSC)を用いて氷晶析出挙動を測定しました。

2006年3月27日〜3月30日 日本化学会第86春季年会にて2件の発表

場所
日本大学 理工学部 船橋キャンパス
 
発表セッション名
物理化学−物性(2PC)
発表日時
2006/03/28
講演タイトル
ドデカンチオール修飾金ナノ粒子の熱成長過程における金イオン錯体の添加効果
講演概要
ナノ粒子の成長反応の際に生成した金イオン錯体が、ナノ粒子の成長に関与しているのではないかと考え、ナノ粒子の成長過程における金イオン錯体の添加効果について検討しました。ナノ粒子の成長過程は、X線小角散乱により追跡しました。
 
発表セッション名
物理化学−物性(2PC)
発表日時
2006/03/28
講演タイトル
ジチオカルバミン酸修飾金ナノ粒子のサイズ分布におけるpH効果
講演概要
二叉分岐型のN,N'-ジオクチルジチオカルバミン酸塩を配位子として用いた金ナノ粒子の生成反応では、還元剤の添加に伴って、溶液が酸性から塩基性へ大きく変化します。今回、金ナノ粒子調製時のpHが粒径分布にどのような影響を与えるかを検討しました。粒径分布は、X線小角散乱により見積もりました。

2006年3月22日〜3月26日 2006年(平成18年)春季 第53回応用物理学会学術講演会

場所
武蔵工業大学
 
発表セッション名
12 半導体B
 12.2 超薄膜・量子ナノ構造
発表日時
2006/03/24
講演タイトル
超高分解能X線インプレーン小角散乱法による微細加工組織の評価‐
講演概要
SuperLabによる超高分解能In-PlaneX線小角散乱測定により、サブミクロンスケールの微細加工パターンの周期構造を評価しました。
 
発表セッション名
11 半導体A(シリコン)
 11.5 Siプロセス技術
発表日時
2006/03/24
講演タイトル
ニッケルシリサイド薄膜の異方性・非線形的熱膨張率の観察
講演概要
薄膜および粉末のニッケルシリサイド(NiSi)試料を対象とし、室温から高温(800℃)までのX線回折測定、反射率測定を行い、結晶性、膜構造の評価を行いました。
 
発表セッション名
10 有機分子・バイオエレクトロニクス
 10.1 作成技術
発表日時
2006/03/24
講演タイトル
微細加工を施した熱酸化シリコン基板上におけるsexithiophene のグラフォエピタキシー
講演概要
微細加工パターンを形成した基板の上に成長させた有機薄膜(sexithiophene)試料をIn-Plane回折測定により評価しました。
微細加工パターンによる基板表面上の組織が有機薄膜の配向性に影響することが判りました。
 
発表セッション名
11 半導体A シリコン
 11.3 絶縁膜技術
発表日時
2006/03/25
講演タイトル
In-Plane SAXSによるHf-silicate膜の相分離の評価(2)
講演概要
SPring-8のATX-Gを使い、In-Plane-SAXS(表面GISAXS)法により、high-k材料のHfO2-SiO2系薄膜試料の相分離過程を評価しました。
窒素添加をすることで、粒成長が抑制されることが判りました。
 
発表セッション名
6 薄膜・表面
 6.5 表面物理・真空
発表日時
2006/03/23
講演タイトル
微小角入射X線小角散乱によるSi(113)面上Geナノワイヤー構造の評価