学会・講演会等発表

学会・講演会等発表

学会・講演会などでの発表をご紹介いたします。

2012年12月 「接着の技術」誌

発表先
接着の技術, 32 (2012), No.3, 23-30.
発行日
2012/12
論文タイトル
最新のX線回折装置を用いた界面やポリマー構造の評価

2012年12月 Journal of Flux Growth

発表先
Journal of Flux Growth, 7 (2012), 48-54.
発行日
2012/12
論文タイトル
薄膜X線回折法の基礎 - その1. 装置の構成と光学系 -
要旨
薄膜試料を対象として行う場合のX線回折法の測定・解析の基礎の概略を粉末測定との比較をしつつ、装置の構成の特徴と光学系の考え方、使い分けについて解説し、最新技術を活用することでどのような情報が得られるかを紹介しました。

2012年11月 Japanese Journal of Applied Physics

発表先
Japanese Journal of Applied Physics, 51 (2012), 11PG07-1 - 11PG07-6.
発行日
2012/11
論文タイトル
Hetero-epitaxial Growth of Cubic La(Sr)MnO3 on Hexagonal ZnO, In-Plane Orientations of La(Sr)MnO3 (001), (110), and (111) Phases
要旨
巨大磁気抵抗効果など様々な電気的・磁気的物性応用が期待される(LaSr)MnO3薄膜を、ZnOバッファー層を導入したc面Sapphire基板上にエピタキシャル成長させた。成長条件を変えることで成長方位や結晶性の制御が制御できることがわかり、そのドメイン構造やエピタキシャル方位を極点測定やIn-plane測定、In-plane逆格子マップ測定などを組み合わせて解明しました。

2012年11月 「化学工業」誌 特集/次世代有機薄膜技術の新潮流

発表先
化学工業, 63 (2012), No. 11, 869-877.
発行日
2012/11/1
論文タイトル
X線を用いた有機薄膜の分析
要旨
近年、研究開発が目覚しく進展している、有機薄膜材料の評価技術としてX線測定技術がどのような評価に活用できるかを中心に、測定・解析の注意点とあわせ、実際の解析事例を交えつつの技術紹介を行いました。

2012年10月31日〜11月2日 第48回X線分析討論会

場所
名古屋大学 野依記念学術交流会館
 
発表セッション名
第3セッション
発表日時
2012/10/31(水)
講演タイトル
波長分散型蛍光X線イメージング分光法の開発と基礎特性の評価
 
発表セッション名
第4セッション
発表日時
2012/10/31(水)
講演タイトル
蛍光X線分析法による非酸化物粉末試料のガラスビード法による定量分析
 
発表セッション名
第5セッション
発表日時
2012/11/1(木)
講演タイトル
X線回折法によるクリソタイルアスベストの純度評価とバリデーション用アスベスト含有建材標準物質の 調製
 
発表セッション名
ポスター発表
発表日時
2012/11/1(木)
講演タイトル
高感度X線回折分析装置を用いた微量結晶相の分析

2012年10月28日〜31日 EPDIC 13

場所
MINATEC, Grenoble, France
 
発表セッション名
MS2- Ab initio Structure Solution(ポスター発表)
発表日時
2012/10/29(月)、30(火)
講演タイトル
Structure determination and clarifying the phase transition of Ni2 complexes
講演概要
Cl-およびBr-をアニオンとするN,N-ジエチルエチレンジアミンのNi2錯体は、熱および湿度により水分子の脱離・吸着を可逆的に起こ すことが知られています。本研究では、水分子の脱離・吸着および加熱によって、Ni錯体が結晶相転移を引き起こすことを、温度および湿度コントロール下での粉末X線回折測定により明らかにしました。さらに、相転移前後の結晶構造を粉末結晶構造解析により明らかにしました。
 
発表セッション名
MS2- Ab initio Structure Solution(ポスター発表)
発表日時
2012/10/29(月)、30(火)
講演タイトル
Structure determination of Ni2 complex before & after thermal phase transition
講演概要
BF4-をアニオンとするN,N-ジエチルエチレンジアミンのNi2 錯体は、温度変化により可逆的に相転移を起こすことが知られていますが、相転移前後の構造は知られていません。本研究では、Ni錯体が、温度コントロール下での粉末回折測定により、結晶相転移を起こしていることを明らかに しました。さらに、結晶相転移前後の結晶構造を粉末結晶構造解析により明らかにしました。

2012年10月25日〜26日 第17回高分子分析討論会

場所
名古屋市中小企業振興会館(吹上ホール)
 
発表セッション名
ポスター講演III
発表日時
2012/10/26(金)
講演タイトル
有機化合物の熱分解:測定手法が与えるデータへの影響について
講演概要
スキマー型TG-DTA-PIMS による熱分解キャラクタリゼーションを目的とし、類似構造をもつポリマーについて、そのデータに与える影響を検討しました。またPI法測定データを用いたマススペクトル解析支援システム(Discrim-Mass)の適用も行いました。
 
発表セッション名
ポスターIV
発表日時
2012/10/26(金)
講演タイトル
加熱時発生ガス光イオン化質量分析法(EGA-PIMS)による塗料・ 塗膜の分析
講演概要
加熱によって複数種のガスが発生する場合に有効な発生ガス分析の一つである加熱時発生ガス光イオン化質量分析法(EGA-PIMS) を用いて、塗料・塗膜からの発生ガスを調べました。

2012年10月7日〜12日 222nd Meeting of ECS / 2012 Fall Meeting of ECSJ

場所
Hawaii Convention Center and the Hilton Hawaiian Village , Honolulu, Hawaii
 
発表セッション名
B6 - Lithium-Ion Batteries - Poster Session
発表日時
2012/10/10(水)
講演タイトル
Analysis of Solid Electrolyte Interphase by Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy for Li-Ion Battery Electrodes

2012年9月25日 平成24年度第1回残留ひずみ・応力解析研究会

場所
研究社英語センター 大会議室
 
発表セッション名
回析法による残留応力測定と強度評価
発表日時
2012/9/25(火) 10:20〜11:10
講演タイトル
回析法の基礎
講演概要
材料評価の様々な分野でX線回析法が使用されています。ここでは基礎となるBraggの式、粉末回析法の幾何学、集中法と平行ビーム法、対称反射と非対称反射の違い、プロファイルの形状と半値幅に影響する因子、多結晶試料における配向、プロファイル解析に使用されるプロファイルフィッティング法などに関して話をする予定です。

2012年9月21日〜23日 錯体化学会 第62回討論会

場所
富山大学 五福キャンパス
 
発表セッション名
(A)錯体の合成と性質(口頭発表)
発表日時
2012/9/21(金) 11:50〜12:10
講演タイトル
Ni-ジアミン錯体の脱水・水和および温度変化による相転移挙動 〜粉末X線構造解析による解明〜
講演概要
Cl-およびBr-をアニオンとするN,N-ジエチルエチレンジアミンのNi2錯体は、熱および湿度により水分子の脱離・吸着を可逆的に起こ すことが知られています。本研究では、水分子の脱離・吸着および加熱によって、Ni錯体が結晶相転移を引き起こすことを、温度および湿度コントロール下での粉末X線回折測定により明らかにしました。さらに、相転移前後の結晶構造を粉末結晶構造解析により明らかにしました。
 
発表セッション名
(A)錯体の合成と性質(ポスター発表)
発表日時
2012/9/21(金)
講演タイトル
Ni-ジアミン錯体の温度変化による相転移挙動 〜粉末X線構造解析による解明〜
講演概要
BF4-をアニオンとするN,N-ジエチルエチレンジアミンのNi2 錯体は、温度変化により可逆的に相転移を起こすことが知られていますが、相転移前後の構造は知られていません。本研究では、Ni錯体が、温度コントロール下での粉末回折測定により、結晶相転移を起こしていることを明らかに しました。さらに、結晶相転移前後の結晶構造を粉末結晶構造解析により明らかにしました。

2012年9月19日 日本分析化学会第61年会

場所
金沢大学 角間キャンパス
 
発表セッション名
受賞講演
発表日時
2012/9/19(水) 14:30〜15:00
講演タイトル
全反射蛍光X線分析装置の開発と微量元素分析に関する研究
講演概要
分析化学会の技術功績賞の受賞対象となった半導体用TXRFと汎用型TXRFの開発の概容を述べました。

2012年9月15日〜20日 XTOP2012

場所
Saint-Petersburg Academic University - Nanotechnology Research and Education Centre of the Russian Academy of Sciences, Saint-Petersburg
 
発表セッション名
Topic 3-4: Material science
発表日時
2012/9/18(火) 17:15〜19:00
講演タイトル
Epitaxial Orientation Analysis of (La,Sr)MnO3 Film with Complex Domains using Wide-angle Reciprocal Space Mapping
講演概要
巨大磁気抵抗効果応用が期待される、(La,Sr)MnO3および(La,Ba)MnO3エピタキシャル薄膜の結晶性、エピ方位を、In-Plane測定と、2次元検出器を用いた広域の逆格子マップ測定から解析しました。

2012年8月 Applied Physics Express

発表先
Applied Physics Express, 5 (2012), 081101-1 - 081101-3.
発行日
2012/8
論文タイトル
Lattice deformation of a-plane ZnO films on r-plane Al2O3 substrates
要旨
r面サファイア基板上、a面成長したZnOエピタキシャル薄膜の結晶性や格子歪を成長温度の関数として解析し、基板表面の面内異方性と合わせて評価した。結果、成長温度が下がるにつれ、面内方向のZnOのc軸は縮み、m軸方向は伸びる傾向が確認されました。

2012年6月18日〜22日 EXRS 2012 (European conference on X-ray Spectrometry)

場所
Vienna International Centre, Viena, Austria
 
発表セッション名
Quantification methodology
発表日時
2012/6/21(木)
講演タイトル
Advanced scattering X-ray correction for oils in XRF

2012年6月17日〜22日 The 16th International Meeting of Lithium Battery

場所
ICC JEJU, Korea
 
発表セッション名
Poster Session, Modeling and Analysis
発表日時
2012/6/18(月)
講演タイトル
Capacity Fading Process of LiFePO4 / Graphite Cells Studied by Depth Profiling with Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GD-OES)
 
発表セッション名
Poster Session, Modeling and Analysis
発表日時
2012/6/18(月)
講演タイトル
Quantification of Lithium in LIB Electrode by Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GD-OES)

2012年4月 九州大学中央分析センターニュース

発表先
九州大学中央分析センターニュース, 31 (2012), 1-8.
発行日
2012/4
論文タイトル
多機能性と使いやさを追求したX線回折装置〜SmartLabシステムの紹介〜
要旨
粉末測定および薄膜測定の基礎の解説と、SmartLabシステムのソフトウェア、ハードウェアについて、実際の解析事例を交えつつの技術紹介を行いました。

2012年3月2日 第49回熱測定ワークショップ

場所
早稲田大学 西早稲田キャンパス
 
発表日時
2012/3/2(金)10:40〜11:20
講演タイトル
多水和物の脱水挙動をTG-DTA及びX線-DSCで調べる