学会・講演会等発表

学会・講演会等発表

学会・講演会などでの発表をご紹介いたします。

2016年12月19日〜21日第26回日本MRS年次大会


場所	横浜市開港記念会館



講座セッション名	招待講演　A-3：先進機能性酸化物マテリアル (国際シンポジウム)

講演日時	2016/12/20(火) 13:00〜13:25　[A3-I20-008]

講演タイトル	「多次元検出器を用いた機能性酸化物薄膜の評価 XRD　analysis of modern functional oxide thin films with multi-dimensional detector 」

講演概要	Ｘ線回折法やＸ線反射率法などの様々な評価技法を用い，最先端の機能性酸化物薄膜の評価を行った事例を紹介します。

2016年12月19日〜21日第26回日本MRS年次大会


場所	横浜市開港記念会館



セッション名	ポスターセッション　A-3：先進機能性酸化物マテリアル (国際シンポジウム)

講演日時	2016/12/20(火) 16:00〜18:00　[A3-P20-010]

発表タイトル	「Ｘ線回折を用いた成長初期段階のAlドープZnO薄膜の構造評価 Structure Analysis on the Initial Stage of Al-doped ZnO Polycrystalline Film Growth Using X-ray Diffractometer 」

講演概要	透明導電膜として実用応用されている、Al添加ZnO薄膜の成長初期の極薄膜試料について、HyPix-3000を用いたGI-WAXS測定などから結晶性を評価した事例を報告します。

2016年10月26日〜28日第52回Ｘ線分析討論会


場所	筑波大学　東京キャンパス文京校舎



講座セッション名	ポスターセッション　P.51

講演日時	2016/10/26(水) 14:50〜16:00/16:40〜17:50

講演タイトル	「不均質試料の共焦点微小部XRF分析における定量的データ解析」

講演概要	共焦点微小部XRFでの測定へのFP定量計算の適用のために、試料をメッシュに区切ったモデルを使用し、簡便かつ安定な計算を構築する。主にモデルと理論強度計算について報告。

2016年9月28日 Journal of Applied Physics., vol.120, (2016)


発表先	Jour. Appl. Phys., vol.120, (2016) 125302-1 - 125302-11 　　　　　　　　（ISSN: 00218979　　　DOI:10.1063/1.4962943）

公開日	Published - 2016 Sep 28

出版社	American Institute of Physics Inc.

論文タイトル	Highly (0001)-oriented Al-doped ZnO polycrystalline films on amourphous glass susbtrates Junichi Nomoto, Katsuhiko Inaba, Minoru Osada, Shintaro Kobayashi, Hisao Makino, Tetsuya Yamamoto

要旨	タッチパネル等への応用が研究されているZnO透明導電膜をガラス基板上に200℃の低温でスパッタ成膜し、バッファー層導入の効果を、結晶配向性の観点から解析し、電気特性との関連を議論しています。

2016年8月1日〜5日第65回デンバーＸ線会議（DXC2016）


場所	シカゴ



講座セッション名	XRFポスターセッション（F.24)

講演日時	2016/8/2(火)

講演タイトル	「Calculation of Fluorescent X-ray intensity for Confocal micro-XRF Analysis of Inhomogenious Samples」

講演概要	面内方向に構造を持つ試料についてコンフォーカルXRF測定強度観察による2次励起効果の検証。

2016年8月1日〜5日第65回デンバーＸ線会議（DXC2016）


場所	シカゴ



講座セッション名	ワークショップ「Trace Analysis」

講演日時	2016/8/1(月)

講演タイトル	「Trace Analysis using wavelength dispersive XRF」

講演概要	WDXでの微量分析に関して、基礎的な事項について解説。

2016年6月3日 Symposium on Application of Fundamenntal Parameters in X-ray Analysis


場所	Weatern Ontario University



講演日時	2016/06/3(金)

講演タイトル	「Key Points for Accurate Semi-Quantitative Analysis」

講演概要	半定量分析の基礎と注意点、失敗例など。

2016年2月18日〜19日日本分析化学会関東支部実習コース


場所	(株)パーキンエルマージャパン　本社・テクニカルセンター



講座セッション名	第27回分析化学基礎実習

講演日時	2016/02/19(金) 9:00〜15:50

講演タイトル	「蛍光X線分析」

講演概要	蛍光Ｘ線分析全般を学んだ後、蛍光Ｘ線法の利点を生かした固体の非破壊分析、迅速分析を中心に実習します。特に、各種有害重金属分析、ハロゲンフリー対応、合金種判定の他、各種廃材中の有価金属分析や貴金属鑑定に重点を置きます。

2016年2月17日〜18日第40回分析展と講演・技術発表会


場所	（地独）大阪市立工業研究所



セッション名	最新分析技術およびオンリーワン工業技術シーズ

講演日時	2016/02/17(水) 13:40〜14:00

講演タイトル	「世界最小・最軽量の携帯型成分分析計を中心に」



講演日時	2016/02/18(木) 13:00〜13:20

講演タイトル	「TG-MSシステムの紹介」

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