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「医薬品から電子材料まで、測定対象に合わせてシステム構築が可能」
試料水平型多目的X線回折装置を開発

2007年8月17日

粉末試料測定専用のエントリーモデルからハイエンドの薄膜試料測定システムまでを、ビルドアップ方式により構築可能な、試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV(アルティマ フォー)を開発しました。薬品、セラミックス、触媒などの工業材料の品質管理から、有機薄膜、磁性材、半導体薄膜などの先端材料の研究開発まで、幅広く支援します。8月17日より販売を開始します。

これまで、測定試料を水平にセットする方式のX線回折装置は、粉末専用単機能型から、各種アタッチメントが装着可能な粉末汎用型、薄膜測定や小角散乱測定機能を付加した多目的型と、その目的に合わせて多数のラインナップがありました。 同装置は、これらのシリーズを集約し、単機能型から、多目的型までの機能に加え、微小・微量測定やハイスループット対応の高速測定機能を、ビルドアップ方式により1台で実現したもので、各種測定光学系、X線検出器、アタッチメント等、広範囲な選択が可能です。

新開発の微小部測定光学系は、反射効率に優れたX線ミラーを組み合わせたもので、通常の光学系から、微小部測定光学系へのワンタッチ切り替えを実現しました。従来、微小・微量測定時に、X線強度の減衰に対応するため必要であったX線管球の交換・調整を不要とし、大幅な省力化を実現しました。 さらに、新開発の高エネルギー分解能型高速X線検出器 D/teX Ultra(ディーテックス ウルトラ)は、従来比100倍(当社標準型検出器との比較)の高速測定を実現しました。 通常測定の迅速化のみならず、微小部測定光学系と組み合わせることによって、微小・微量試料測定専用X線回折装置に匹敵するパフォーマンスを実現します。近年要求が高まっている、製品に対する品質保証や創薬における研究開発など、微小領域、微量試料の迅速分析に、威力を発揮します。

また、操作性に関しても、人間工学に基づいた設計により、試料セット位置を1300mm から1000mmに下げ、ドア開口位置から試料へのアクセス距離を520mm から320mmとしました。これにより、試料交換、アタッチメントの着脱はもちろんのこと、光学系の交換も極めて容易になりました。加えて、アタッチメント着脱時に電源を切ることなく接続できるホットプラグの採用により、制御ドライバの再立上げによる光学系の調整が不要となりました。

安全面では、最新の国際安全規格に則り、インターロック方式によるX線に対する安全性を確保、また、装置正面右下に配置された緊急停止スイッチを装備しています。 設置ユーティリティにおいても徹底的な見直しをはかり、従来機の容積比約50%の、幅1100×奥行き814×高さ1630mm(薄膜測定仕様では奥行き1100mm)、重量比約80%の610kgと、大幅な省スペース化および軽量化を実現しました。 同装置は、8月29日(水)から8月31日(金)まで幕張メッセで開催される2007分析展に出品展示いたします。

主な特長


  • ビルドアップ方式により、粉末試料測定専用機から薄膜/小角粒径/微小・微量測定まで豊富なシステムを構築可能。
  • 微小・微量測定に威力を発揮する新型微小部光学系を装備可能。
  • 高計数率、高エネルギー分解能、低ノイズの新型高速X線検出器を搭載可能。
  • 試料セット位置を下げ、ドア開口部から試料までのアクセス距離を大幅に縮小したことにより、操作性が大きく向上。
  • 従来機に比較して容積比50%、重量比80%と、設置スペースを選ばないコンパクト設計。
  • 世界標準の安全規格に準拠。
    UltimaIVロゴ

装置の外観
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