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日本分析化学会「有功賞」を受賞

2015年9月15日

当社X線機器事業部製造部の福田智行が2015年9月10日に九州大学伊都キャンパスで行われた日本分析化学会 第64年会において「有功賞」を受賞しました。この賞は多年にわたり分析装置の開発製造等の実務に従事し功労のあった技術者に授与されるものです。

<受賞理由>

30年間以上にわたりX線分析装置に関する開発、製造、サービス業務に携わり、特に全反射蛍光X線分析装置の開発・製造において、軽元素分析の感度向上や大口径ウェハ測定など、ユーザーからのさまざまな要求の実現に独自のアイデアを生かし、全反射蛍光X線分析装置が半導体デバイスの性能や歩留まり向上に欠かせない装置に発展することに貢献したこと。
さらにサービス部や製造部にも所属したその幅広い経験から数々の発明を行い、装置の高性能・高機能化に加え、メンテナンス性の向上や製品製造のコストダウンにも貢献したこと。

このように、長年、多岐にわたる全反射蛍光X線分析装置の開発において大きく貢献したことが評価されました。

授賞式にて
授賞式にて
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