逆格子マップ作成のためのデータ測定は、わずか15分
HyPix-3000は、通常の露光モードによる2次元測定の他に、2次元TDIスキャンによる測定が可能です。この測定では、スキャン中に有効検出面積分のデータが積算されるため、微弱な回折線であっても強度の高い2次元データとして像を得ることができます。この機能を利用することにより、広範囲にわたる逆格子点の情報を高速に測定できます。
（Pb,La)TiO3（PLT）配向膜/Pt下地/Si基板からなる強誘電体薄膜の広域逆格子マップ
逆格子マップ作成のためのデータ測定は、わずか15分。驚異的な高速測定は、検出面積の広さとTDIスキャン測定、そして、高速読み出しを特長としたHyPix-3000だからこそ提供できるアプリケーションです。
２つの格子面（結晶面）を同時に測定
HyPix-3000は、約3,000mm2という有効検出面積の広さとＸ線を直接検出する光子計数型の採用により、滲みのない回折像を得ることができます。
極点図形測定, 配向分布解析
（上図：カメラ長：105mm 測定時間:1 H）
シャッターレス測定による in situ （その場）測定・連続した時分割測定が可能
HyPix-3000は、2つのカウンターを計数／読み出しと交互に切り替えることにより、データ読み出しにかかるデッドタイムを実質ゼロにできます。
セラミックスの合成における転移挙動
高速読み出しと検出面積の広さを生かし、温度上昇による結晶相転移の過程をＸ線回折測定でリアルタイムにとらえた例。温度の上昇に伴い、コランダム、クオーツ、カルサイトの混合物から、中間層を経てゲーレナイトが合成されていく過程を視覚的に確認できます。
実質速度３倍の高スループット！
HyPix-3000は、約3,000mm2という有効検出面積の広さと、優れた位置分解能で短時間の測定を可能にします。
１次元高速逆格子空間マッピング
高速読み出しと検出面積の広さを生かした、弊社従来検出器とのスキャン比較です。
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今まで弊社検出器による測定では |
HyPix-3000なら１回のスキャンで、 |
