| 開催日 | 区分 | 受付 | タイトル | 開催言語 |
| 2020年 10月23日（金） | XRF | 受付中 | 蛍光Ｘ線分析セミナー蛍光Ｘ線分析の基礎 その4 概要：波長分散型蛍光Ｘ線分析装置（走査型）による検量線作成と日常管理のポイントを説明します。 講師：上村 奨平（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 SBU WDX 大阪分析センター）検量線を作成する際のピーク，バックグラウンドおよびPHA条件設定の考え方を解説します。 講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 参加登録：https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_keOTvkBmSJuoSNDgvBaNmg ※zoom社webinar登録画面へ遷移します。姓名欄の合計漢字数が6文字を超えるお名前の場合、恐れ入りますが”ひらがな”の一部使用やローマ字 にてご登録下さい。 定員：500名（無料：事前登録制）
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