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～ タイトルやキーワードでの絞り込み検索 ～
リガクWebinarシリーズ2020
| 2020年 04月24日（金） |
XRD, XI |
開催済み |
電池セミナー最新Ｘ線技術による電池材料評価講師：白又 勇士（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| 2020年 05月22日（金） |
SCX |
開催済み |
単結晶Ｘ線構造解析セミナー結晶化不要のＸ線結晶構造解析 -結晶スポンジ法-講師：菊池 貴（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：11:00～11:30 質疑応答：11:30～11:45 |
| SCX |
開催済み |
PDF解析セミナーPDF解析を用いた局所構造解析最近、注目されているPDF解析を分かり易く、ご紹介 講師：白又 勇士（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
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| XRD |
開催済み |
製薬セミナーXRDによる原薬分析＜入門編＞～結晶多形の区別から温度変化まで～ 講師：生天目 由紀子（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 |
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| TA |
開催済み |
熱伝導率セミナー簡便かつ迅速な熱伝導率測定装置TCi講師：有井 忠（株式会社リガク 熱分析事業部 主幹研究員）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45 | |
| 2020年 05月29日（金） |
SCX |
開催済み |
単結晶Ｘ線構造解析セミナー結晶スポンジ －Molecular Grabber－講師：松本 崇（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：11:00～11:30 質疑応答：11:30～11:45 |
| TA |
開催済み |
製薬セミナー医薬品の為の熱分析講師：本村 和子（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 | |
| 2020年 06月05日（金） |
XRD |
開催済み |
薄膜評価セミナー逆格子マップによるエピタキシャル薄膜の評価講師：小林 信太郎（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| RAMAN |
開催済み |
製薬セミナー携帯型ラマン分光計の医薬品分野におけるアプリケーション講師：野上 太郎（株式会社リガク 携帯機器分析事業部）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 | |
| 2020年 06月19日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナー蛍光Ｘ線分析の基礎 その1蛍光Ｘ線の発生と分光結晶を用いたＸ線の分光原理、また蛍光Ｘ線分析装置の概要など蛍光Ｘ線分析法の基礎的な内容について説明します。
講師：高橋 学人（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 WDX東京分析センター）
講義：11:00～11:30 質疑応答：11:30～11:45 |
| XRD |
開催済み |
電池セミナーReactor-Xを用いたその場観察 －温度と湿度を制御した燃料電池のその場観察－耐腐蝕赤外線加熱試料高温装置 Reactor X と露点型精密調湿器 HUM-DPを用いて、温度・ガス・湿度の多様な測定環境を制御し、その場で観察した測定と解析例をご紹介します。実運用上のデバイスの特性評価に加えて、性能向上のための研究や品質管理にも有効なReactor-X + HUM-DPを、ぜひ皆様にもご経験していただければと思います。
講師：金 廷恩（株式会社リガク サービス事業部 主任技師）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
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| XRD |
開催済み |
セメントセミナー（Ｘ線分析編）XRDを用いたセメント材料の評価 －定性分析～リートベルト定量－セメントの水和反応速度や硬化強度などの特性は、セメントを構成する物質によって変化することが知られています。X線回折装置（XRD）を用いることにより、セメント構成物質を直接的に評価することができるため、本装置は研究開発や品質管理などで広く使用されています。本セミナーでは、定性・定量分析（リートベルト定量）の原理を説明するとともに、セメント材料を用いた解析事例をご紹介いたします。
講師：葛巻 貴大（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 |
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| TA |
開催済み |
セメントセミナー（熱分析編）発生ガスおよび試料観察熱分析を用いたセメント分析の紹介発生ガス分析TG-EGA 装置ThermoMassPhoto（TG-DTA-MS)やTG-DTA-FTIR、ならびに試料観察型STAを用いたセメントへの応用測定とデータの解析について解説いたします。最新の熱分析手法を用いた多角的な分析事例をご紹介いたしますので、ご興味のある方は是非ご視聴ください。
講師：有井 忠（株式会社リガク 熱分析事業部 主幹研究員）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45 | |
| 2020年 06月26日（金） |
XRD |
開催済み |
ソフトウェアアップグレードセミナー進化した最新ソフトウェアSmartLabStudioIIの紹介X線回折装置SmartLabやMiniFlexの測定やデータの解析を行う最新ソフトウェアSmartLab Studio IIの機能について紹介いたします。数年前にご購入いただいた装置であれば、お使いのソフトウェアをアップグレードしていただけますので、お気軽にお問合せください。
講師：佐々木 明登（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| TA |
開催済み |
発生ガス分析セミナーTG-MS、TG-FTIRの基礎と応用TG-MS、TG-FTIRの概要と実際の測定例についてご紹介します。また、発生ガス分析での測定に関する注意点もお話しさせていただきますので、発生ガス分析にご興味のある方やこれから発生ガス分析を始められる方は是非ご視聴ください。
講師：本村 和子（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 |
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| XI |
開催済み |
Ｘ線CTイメージングセミナーＸ線CTの各種材料への適用：基礎編X線CTは試料内部の状態を非破壊で観察することができます。最初にX線CTの基礎を解説し、nano3DX, CTLabの各種材料への適用例についてわかりやすく紹介します。
講師：佐藤 純一（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 Ｘ線イメージング）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45 | |
| 2020年 07月03日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナー蛍光Ｘ線分析法によるハロゲン分析様々な試料に含まれるハロゲン元素（臭素，塩素，フッ素）を蛍光X線分析法で分析した事例をご紹介いたします。分析したい品種・濃度・元素に応じて最適な装置をご提案させていただきます。
講師：松田 渉（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 WDX大阪分析センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| XRD |
開催済み |
最新分析セミナーこれなら使えるXRD定量分析いまやXRDの分析対象は結晶に限りません。こセミナーでは、 XRDの定量分析法原理と様々な試料の解析例をご説明します。また、当社の特許技術である Direct-Derivation 法(DD 法)についてもご紹介します。
講師：生天目 由紀子（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 |
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| XRD |
開催済み |
Ｘ線応力セミナーＸ線回折法による結晶材料の残留応力分析 －金属からセラミックスまで－材料強度は残留応力と密接に関係しており、例えば、バネ・ギヤ・ベアリングなど耐久性が求められるような機械部品の製造時には意図的に残留応力を付与・制御しています。一方、実製品の長期使用に伴って、割れや反りといった残留応力を原因とした不具合が発生する場合もあります。それゆえ、残留応力の計測は、開発品の品質向上だけでなく、疲労寿命予測や不具合の原因究明などを目的として、製造現場では欠かすことのできない評価項目となっています。本講では、非破壊分析法として広く知られるX線応力測定技術について、最新の測定装置や測定事例を交えながらご紹介致します。
講師：根津 暁充（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45 | |
| 2020年 07月22日（水） |
RAMAN |
開催済み |
製薬セミナー医薬品原料の受け入れ確認試験で求められる分析法バリデーション携帯型ラマン分光計を医薬品原料の受け入れ確認試験に適用するために必要な分析法バリデーションの要点を紹介します。
講師：宮山 明（株式会社リガク 携帯機器分析事業部）
講義：13:30～14:00 質疑応答：14:00～14:10 |
| 2020年 07月31日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナーZSX PrimusIV, IViのご紹介講師：山田 康治郎（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 SBU WDX）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| 2020年 08月21日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナー蛍光Ｘ線分析の基礎 その2波長分散型蛍光Ｘ線装置(走査型)を用いた定性分析の概要を説明します。定性チャートの解析手順やスペクトルの重なり、スタンダードレスFP分析の例を紹介します。
講師：高橋 学人（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 WDX東京分析センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| 2020年 08月26日（水） |
RAMAN |
開催済み |
製薬セミナー医薬品原料の受け入れ確認試験における携帯型ラマン分光計の活用例分析法バリデーションを進めるに当たり、携帯型ラマン分光計を有効に活用するための測定のコツを中心にその操作手順を紹介します。
講師：宮山 明（株式会社リガク 携帯機器分析事業部）
講義：13:30～14:00 質疑応答：14:00～14:10 |
| 2020年 09月04日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナーSQX分析(スタンダードレスFP分析) ～正しい分析値を得るために～組成が全く不明な試料の分析などに効果を発揮する強力な分析ツールであるSQX分析（スタンダードレスFP分析）．正しく分析値を得るためにどのような設定が必要なのかご紹介いたします。
講師：上村 奨平（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 WDX大阪分析センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| 2020年 09月18日（金） |
TA |
開催済み |
医薬品分析セミナー熱分析を用いた医薬品分析の応用例医薬品の分析でご使用いただいているDSCやTG-DTAについて、もう一歩進んだアプリケーションや熱分析装置をご紹介いたします。また、適切なサンプリング方法から測定方法の手法までご紹介しますので、普段行っている測定に不安や疑問がある方にもお役に立てるセミナーです。
講師：本村 和子（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| XRD |
開催済み |
Ｘ線回折入門セミナーＸ線回折装置を用いた品質管理手法Ｘ線回折装置は、これまで主にR＆D分野での研究開発用途で使用されてきました。しかしながら、近年の卓上X線回折装置の普及に伴い、結晶構造の管理目的として、品質管理の現場でもＸ線回折装置の使用機会が増加しつつあります。本セミナーでは、粉末Ｘ線回折法の原理を説明するとともに、実試料を用いた品質管理用途での評価事例をご紹介いたします。
講師：葛巻 貴大（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 | |
| XRD |
開催済み |
粒子径分布測定セミナー小角Ｘ線散乱(SAXS)による粒子径分布測定小角Ｘ線散乱(SAXS)の基本的な原理、装置概要およびSAXS/USAXSを用いたナノ粒子の粒子径分布測定・アプリケーションについてご説明します。
講師：尾本 和樹（株式会社リガク Ｘ線機器事業部）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45 | |
| 2020年 09月25日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナー蛍光Ｘ線分析の基礎 その3波長分散型蛍光Ｘ線装置(走査型)を用いた定量分析の概要を説明します。検量線を作成する際の注意点や共存元素の影響、マトリクス補正の例を紹介します。
講師：児玉 憲治（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 WDX大阪分析センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| XRD |
開催済み |
医薬品分析セミナー原薬分析のためのXRD活用術選択配向性の高い物質・難溶性物質・高薬理活性物質など、さまざまな原薬の分析にお使いいただける測定手法をご紹介します。現在お使いの粉末Ｘ線回折装置の可能性をご確認いただき、分析の問題解決にお役立てください。
講師：生天目 由紀子（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 | XRF |
開催済み |
医薬品分析セミナー蛍光Ｘ線分析(XRF)による非破壊元素分析蛍光Ｘ線分析では迅速・簡易かつ非破壊で検体中の元素情報が得られます。触媒金属の除去・回収効率の評価、塩原薬の化学量論的分析、混合粉末の均一性評価、元素不純物の管理（ICH Q3D）など、XRFの特徴を活かした応用の可能性をご紹介します。
講師：日下部 寧（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 SBU EDX）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45 |
| 2020年 10月23日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナー蛍光Ｘ線分析の基礎 その4波長分散型蛍光Ｘ線分析装置（走査型）による検量線作成と日常管理のポイントを説明します。
検量線を作成する際のピーク，バックグラウンドおよびPHA条件設定の考え方を解説します。 講師：上村 奨平（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 WDX大阪分析センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| TA |
開催済み |
熱分析テクニカルセミナー（英語開催）『 Thermal Analysis Technical Seminar 』It will focus on the most common thermal analysis methods, TG-DTA and DSC, and will briefly explain the principles, measurement procedures and applications.
講師：Lani L. Celiz（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45(JST:日本時間) | |
| 2020年 10月30日（金） |
SCX |
開催済み |
（単結晶構造解析） |
| 2020年 11月06日（金） |
XRD |
開催済み |
Ｘ線回折入門セミナーＸ線回折初心者のための粉末試料の試料調製法Ｘ線回折法は、研究開発や品質管理のための分析ツールとして、広く利用されています。本手法では、粉末試料をそのまま測定することができますが、試料の粒径や充填方法などにより測定結果に悪影響が生じることが多々あります。本セミナーでは、Ｘ線回折測定に最適な試料調製法をご紹介します。
講師：葛巻 貴大（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| TA |
開催済み |
発生ガス分析セミナー（英語開催）『 Hyphenated techniques of Thermal Analysis and Evolved gas analysis 』The features and the applications of TG-MS and TG-FTIR will be introduced as well as brief explanation on the effectiveness of evolved gas analysis and how they complement each other.
講師：Lani L. Celiz（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45(JST:日本時間) |
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| 2020年 11月19日（木） |
SCX |
開催済み |
MicroED（電子線単結晶構造解析） ワークショップ『日本電子とリガクが提供する極微小結晶における電子線単結晶構造解析(MicroED)プラットフォーム』両社のコア技術の相乗効果によって生まれる日本発『電子線単結晶構造解析(MicroED)プラットフォーム』により、最先端の研究の現場で求められているナノメートル・レベルの極微小結晶からの分子構造の解明に貢献します。
スピーカー：・神田 浩幸（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 SBU ROD 戦略ビジネスユニットマネージャー）
・奥西 栄治（日本電子株式会社 EM事業ユニット EM事業企画部 部長） ・山野 昭人（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター 主幹技師） 開催時刻：14:00～14:35 質疑応答：14:35～14:50 |
| 2020年 11月20日（金） |
XRD |
開催済み |
薄膜評価セミナー『 機能性薄膜材料のＸ線回折による評価技術 』■第1部
「SmartLabシステムによる機能性薄膜の評価と最新技術」 概要：薄膜評価用SmartLabシステムを用いた機能性薄膜の評価技法を、評価の実例とともに解説します。合わせて最新の評価技法やアタッチメント機能についてもご紹介。 講師：稲葉 克彦（株式会社リガク Ｘ線研究所）
講義：10:00～10:30 （質疑応答：10:30～10:45） ■第2部
「金属酸化物薄膜の構造と物性: 自在設計を支える評価法」 概要：金属酸化物多結晶薄膜における物性・機能自在設計について議論する。構造を設計的に操ることが成功因子であり、それを支えるのが評価法である。 講師：山本 哲也 教授（理学博士）
高知県公立大学法人 高知工科大学 大学院工学研究科 教授 総合研究所 マテリアルデザインセンター センター長 講義：11:00～11:30 （質疑応答：11:30～11:45） |
| TA |
開催済み |
発生ガス分析セミナー3次元表示・解析ソフトの紹介弊社の発生ガス分析装置で使用している3次元表示解析ソフトがこの度バージョンアップします。さらに使いやすくなったソフトの機能紹介を兼ねて実際の測定データを使った解析を実演します。
講師：本村 和子（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
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| 2020年 11月27日（金） |
XRF |
開催済み |
蛍光Ｘ線分析セミナーエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析（EDX）の基礎エネルギー分散型の蛍光X線分析装置について、簡単な原理や得意なアプリケーション、波長分散型との違いなど、基礎的な情報をお届けします。
講師：日下部 寧（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 SBU EDX）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| XI |
開催済み |
Ｘ線CTイメージングセミナーＸ線CTによる生物、生体試料のミクロ構造三次元観察講師：国島 直樹（株式会社リガク Ｘ線研究所）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 |
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| SCX |
開催済み |
単結晶Ｘ線構造解析セミナー最新装置における分子構造解析手法の紹介従来のＸ線結晶構造解析では、比較的大きなサイズが必要とされています。
本Webinarでは、最新の単結晶Ｘ線構造解析装置を用いる事で、50μm以下の小さな結晶や太さが10μmを切るようなマイクロクリスタルが測定できるのかをご紹介します。最後に、最近話題の電子線回折手法と最新単結晶Ｘ線構造解析装置の測定可能な結晶サイズレンジを示します。 講師：松本 崇（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：16:00～16:30 質疑応答：16:30～16:45 |
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| 2020年 12月04日（金） |
XRD |
開催済み |
医薬品分析セミナーリガク 21 CFR Part11対応システムの紹介 ～SmartLab Studio II ERESシステム～21 CFR Part11ガイドラインに準拠したSmartLab Studio II ER/ESシステムをご紹介いたします。本Webinarでは、システムセキュリティや監査証跡などの求められる機能・操作方法についてご説明いたします。また弊社のIOOQのご提供についてもご説明いたします。
講師：山本 泰司（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 応用技術センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
| 2020年 12月11日（金） |
XRF | 蛍光Ｘ線分析セミナー蛍光Ｘ線分析法における試料調製：金属試料蛍光Ｘ線分析法における試料調整法の概要、および金属試料の試料処理における調整法やその際の注意点について解説します。
講師：児玉 憲治（株式会社リガク Ｘ線機器事業部 WDX大阪分析センター）
講義：14:00～14:30 質疑応答：14:30～14:45 |
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| TA | 熱伝導率セミナー新型熱伝導率測定装置「TRIDENTシリーズ」の紹介熱伝導率測定装置がTCiからTridentシリーズにこの度、モデルチェンジされました。さらに使いやすくなったソフトウエアの機能説明を兼ねて、近年までの幾つかのユニークなアプリケーションをご紹介します。
講師：有井 忠（株式会社リガク 熱分析事業部 主幹研究員）
講義：15:00～15:30 質疑応答：15:30～15:45 |
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| 2020年 12月18日（金） |
TA | 熱分析テクニカルセミナー温度変調DSCって何がわかるの？温度変調DSCであるDynamic DSCの特長と解析事例をご紹介いたします。温度変調DSCの測定条件の決め方などもご紹介いたします。
講師：遠藤 渉（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：11:00～11:20 質疑応答：11:20～11:30 |
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| TA | 熱分析テクニカルセミナー（英語開催）『 Technical Seminar in Thermal Analysis with live demonstration on sample preparation 』It will focus on the most common thermal analysis methods of STA and DSC and will briefly explain the principles, measurement procedures and applications. After the seminar, we will give a live demonstration on sample preparation such as powder and pellet samples.
講師：Dr. Lani L. Celiz（株式会社リガク 熱分析事業部）
講義：14:30～15:00 質疑応答：15:00～15:15 |
TOPIQ : Rigaku quick Webinars
| 2020年 04月30日（木） |
XI |
開催済み |
TOPIQ｜X-Ray Computed Tomography For Materials & Life Science 5: Plant Science Applications講師：Angela Criswell（Rigaku Americas Corporation）
講義：03:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 05月01日（金） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜Sample Screening, Strategy Calculation And Data Collection In CrysAlisPro講師：Pierre Le Magueres
講義：08:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 05月15日（金） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜Separating multiple diffraction patterns in CrysAlisPro講師：Dr. Pierre Le Magueres（Rigaku Americas Corporation）
講義：08:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 05月19日（火） |
XRD |
開催済み |
TOPIQ｜Thin-film XRD application by SmartLab講師：Shyjumon Ibrahimkutty
講義：17:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 05月20日（水） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜Separating multiple diffraction patterns in CrysAlisPro講師：Dr. Pierre Le Magueres（Rigaku Americas Corporation）
講義：23:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 05月21日（木） |
SAXS |
開催済み |
TOPIQ｜Exploring the landscape of macromolecular solutions with SAXS講師：Angela Criswell（Rigaku Americas Corporation）
講義：03:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 06月01日（月） |
SCX |
開催済み |
Rigaku School for Practical Crystallography講師：Various
講義：23:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 06月02日（火） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜Crystalline Sponge Method講師：Christian Göb
講義：17:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 06月11日（木） |
XRF |
開催済み |
TOPIQ｜The Advantages of Indirect Excitation EDXRF講師：
講義：24:00～（JST:日本時間[6/12-0:00]） |
| 2020年 06月18日（木） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜How to Set Up Variable Temperature Experiments in CrysAlisPro講師：Jakub Wojciechowski
講義：17:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 06月24日（水） |
XRF |
開催済み |
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)Eine schnelle, einfache Methode zur Bestimmung von Elementkonzentrationen in petrochemischen Proben講師：Dietmar Denker & Carmen Kaiser-Brügmann
講義：17:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 06月25日（木） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜How to Improve Crystal Structure Models by TAAM Refinement講師：Dr Paulina Dominiak
講義：24:00～（JST:日本時間[6/26-0:00]） |
| 2020年 07月06日（月） ～ 17日（金） |
SCX |
開催済み |
Rigaku School for Practical Crystallography – Asia Pacific -A series of 10 one-hour webinar session every day at 8 PM|JSTSchool Directors：Dr. Paul Swepston and Dr. Joseph Ferrara
講義：20:00～21:00（JST:日本時間） |
| 2020年 07月07日（火） |
XRD |
開催済み |
TOPIQ｜Investigating crystalline defects of semiconductors using X-ray Topography概要：Join this webinar to discover the X-ray Topography methodology, the scientific principles of measurements and the possibilities of the instrumentation. The webinar will focus on applications on different materials and the results, demonstrating how the XRTmicron system is used to get highest quality 2D and 3D topograms of semiconductor material.
講師：Martin Fehrentz
講義：17:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 07月16日（木） |
XI |
開催済み |
X-ray Computed Tomography for Materials and Life ScienceGeology Applications概要：A number of X-ray CT application examples of geological samples will be discussed. Examples include the analysis of cracks, pores, inclusions, and phase quantification of rocks and drill cores. We will introduce available resources for pore network analysis that can be applied to rock CT scans.
講師：Aya Takase（Rigaku Americas Corporation）
講義：03:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 07月24日（金） |
XRD, EDX, SEMI |
開催済み |
The Onyx ED-XRF: High-Speed Analysis of Micron-scale Features and Devices概要：Join in to learn how micro-spot ED-XRF is used to analyze thin film properties and surface chemistry with micron-scale accuracy, and how the uniquely hybridized optical-microscopy and XRF sensor technologies of the Onyx deliver rapid, high-impact data with ease.
講師：Brad Lawrence
講義：03:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 07月29日（木） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜NoSpherA2: Novel Charge Density Tools in Olex2概要：This session shows how to use NoSpherA2 to perform HAR in Olex2 in real-time and visualize results and properties, including electron localization, surfaces and potentials.
講師：Jakub Wojciechowski
講義：17:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 07月29日（木） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜NoSpherA2: Novel Charge Density Tools in Olex2 (Session2)概要：This session shows how to use NoSpherA2 to perform HAR in Olex2 in real-time and visualize results and properties, including electron localization, surfaces and potentials.
講師：Jakub Wojciechowski
講義：24:00～（JST:日本時間[7/30-0:00]） |
| 2020年 08月04日（火） ～ 06日（木） |
XRD， XRF， XI |
開催済み |
Rigaku's Virtual Analytical X-ray Convention概要：Due to the COVID-19 induced cancellations of the Microscopy & MicroAnalysis, Denver X-ray, and American Crystallographic Association physical conferences this summer, Rigaku will be live webcasting a 3-day virtual Analytical X-ray Convention from our laboratory facility in Texas.
講師：
講義：23:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 08月12日（水） ～ 13日（木） |
SCX |
開催済み |
Single Crystal Online Users’ Meeting概要：We would like to invite you to join us for our annual user meetings on 12th and 13th August. Due to travel restrictions currently affecting many countries, we will hold this event via Zoom and it will therefore be available globally.
講師：Fraser White
講義：22:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 08月19日（水） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜The Rigaku XtaLAB mini II: A Way to Publish Great Structures with a Simple and Affordable Benchtop X-ray Diffractometer講師：Dr. Pierre Le Magueres（Rigaku Americas Corporation）
講義：23:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 08月21日（金） |
SCX |
開催済み |
TOPIQ｜The Rigaku XtaLAB mini II: A Way to Publish Great Structures with a Simple and Affordable Benchtop X-ray Diffractometer (Session2)講師：Dr. Pierre Le Magueres（Rigaku Americas Corporation）
講義：08:00～（JST:日本時間）[現地8/20-18:00] |
| 2020年 10月15日（木） |
XI |
開催済み |
X-ray Computed Tomography for Materials and Life Science 7: Life Science Applications概要：A number of X-ray CT application examples for life samples will be discussed. Examples include imaging and analysis of animal bones and other life science samples.
講師： Angela Criswell (Rigaku Americas Corporation)
講義：03:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 10月16日（金） |
RAMAN |
開催済み |
Transforming workflows with handheld Raman概要：We will discuss how handheld Raman has transformed workflows and maximized quality insight in their organization.
講師： Jill Carreiro, Joseph Stoltz III, Suzanne Schreyer, Michelle O’Connor, Mark Levine
講義：02:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 10月22日（木） |
XRF |
開催済み |
Best Operating Practices for XRF users including the importance of sample preparation概要：Quality Control in industry is imperative, this webinar will highlight the XRF best operating practices that will ensure the daily monitoring and compliance of quality control data.
講師：Carmen Kaiser Brügmann & Dr Tanja Butt (Retsch)
講義：16:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 10月22日（木） |
XRF |
開催済み |
Best Operating Practices for XRF users including the importance of sample preparation (Session2)概要：Quality Control in industry is imperative, this webinar will highlight the XRF best operating practices that will ensure the daily monitoring and compliance of quality control data.
講師：Carmen Kaiser Brügmann & Dr Tanja Butt (Retsch)
講義：16:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 11月10日（火） |
XRF |
開催済み |
TOPIQ | Rigaku EDXRF Analyzers in the Petroleum Industry概要：In this webinar, we highlight Rigaku EDXRF analyzers used upstream, midstream and downstream in the petroleum industry for the measurement of sulfur, chlorine and metals in crude and fuel oils, including automotive, aviation and marine fuels. Lubricating oils are also discussed, followed by a summary of the ASTM and other international standard test methods covered by the Rigaku EDXRF product line.
講師：Scott Fess
講義：23:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 11月11日（水） |
XRF |
開催済み |
TOPIQ | Rigaku EDXRF Analyzers in the Petroleum Industry (Session2)概要：In this webinar, we highlight Rigaku EDXRF analyzers used upstream, midstream and downstream in the petroleum industry for the measurement of sulfur, chlorine and metals in crude and fuel oils, including automotive, aviation and marine fuels. Lubricating oils are also discussed, followed by a summary of the ASTM and other international standard test methods covered by the Rigaku EDXRF product line.
講師：Scott Fess
講義：10:00～（JST:日本時間） |
| 2020年 12月07日（月） ～ 11日（金） |
SCX | Advanced Topics in Practical Crystallography SchoolThe series runs Dec. 7–11, 2020 at 8 am CDT every weekday.概要：You are invited to a series of 5 tuition-free, hour and a half webinars on advanced topics in practical X-ray crystallography. We will cover Powder and PDF Data Collection and Processing, High Pressure Cell Data Collection and Processing, Using Ewald3D and new features in CrysAlisPro, and Non-spherical Atom Refinement with NoSpherA2.
Day 1 (Dec. 7,2020): Powder and PDF Data Collection Day 2 (Dec. 8,2020): Powder and PDF Analysis Day 3 (Dec. 9,2020): High Pressure Cell Data Collection and Processing Day 4 (Dec. 10,2020): Using Ewald3D and New Features in CrysAlisPro V41 Day 5 (Dec. 11,2020): Non-spherical Atom Refinement with NoSpherA2 講師：Mathias Meyer, Pierre Le Magueres, Keisuke Saito, Jakub Wojciechowski, Florian Kleemis
講義：22:00～23:00（JST:日本時間） | |
| 2020年 12月17日（木） |
XI | X-Ray Computed Tomography for Materials & Life Sciences 8: Metrology Applications概要：Basics of metrology analysis and a number of X-ray CT application examples will be discussed. Examples include size and shape measurements of metal and plastic parts, tolerancing evaluation, comparison of nominal (CAD) and actual (CT) or a golden standard and a test subject. We will also introduce available resources to learn more about X-ray CT metrology.
講師： Aya Takase (Rigaku Americas Corporation)
講義：03:00～（JST:日本時間） |
