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リガクWebinarシリーズ2020


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リガクWebinarシリーズ2020

2020年
04月24日(金)
XRD,
XI
開催済み
電池セミナー
最新X線技術による電池材料評価
講師:白又 勇士(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
2020年
05月22日(金)
SCX
開催済み
単結晶構造解析セミナー
結晶化不要のX線結晶構造解析 -結晶スポンジ法-
講師:菊池 貴(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:11:00~11:30
質疑応答:11:30~11:45
SCX
開催済み
PDF解析セミナー
PDF解析を用いた局所構造解析
最近、注目されているPDF解析を分かり易く、ご紹介
講師:白又 勇士(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
XRD
開催済み
製薬セミナー
XRDによる原薬分析<入門編>
~結晶多形の区別から温度変化まで~
講師:生天目 由紀子(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:15:00~15:30
質疑応答:15:30~15:45
TA
開催済み
熱伝導率セミナー
簡便かつ迅速な熱伝導率測定装置TCi
講師:有井 忠(株式会社リガク 熱分析事業部 主幹研究員)
講義:16:00~16:30
質疑応答:16:30~16:45
2020年
05月29日(金)
SCX
開催済み
単結晶構造解析セミナー
結晶スポンジ -Molecular Grabber-
講師:松本 崇(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:11:00~11:30
質疑応答:11:30~11:45
TA
開催済み
製薬セミナー
医薬品の為の熱分析
講師:本村 和子(株式会社リガク 熱分析事業部)
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
2020年
06月05日(金)
XRD
開催済み
薄膜評価セミナー
逆格子マップによるエピタキシャル薄膜の評価
講師:小林 信太郎(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
RAMAN
開催済み
製薬セミナー
携帯型ラマン分光計の医薬品分野におけるアプリケーション
講師:野上 太郎(株式会社リガク 携帯機器分析事業部)
講義:15:00~15:30
質疑応答:15:30~15:45
2020年
06月19日(金)
XRF
開催済み
蛍光X線分析セミナー
蛍光X線分析の基礎 その1
蛍光X線の発生と分光結晶を用いたX線の分光原理、また蛍光X線分析装置の概要など蛍光X線分析法の基礎的な内容について説明します。
講師:高橋 学人(株式会社リガク X線機器事業部 WDX東京分析センター)
講義:11:00~11:30
質疑応答:11:30~11:45
XRD
開催済み
電池セミナー
Reactor-Xを用いたその場観察 -温度と湿度を制御した燃料電池のその場観察-
耐腐蝕赤外線加熱試料高温装置 Reactor X と露点型精密調湿器 HUM-DPを用いて、温度・ガス・湿度の多様な測定環境を制御し、その場で観察した測定と解析例をご紹介します。実運用上のデバイスの特性評価に加えて、性能向上のための研究や品質管理にも有効なReactor-X + HUM-DPを、ぜひ皆様にもご経験していただければと思います。
講師:金 廷恩(株式会社リガク サービス事業部 主任技師)
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
XRD
開催済み
セメントセミナー(X線分析編)
XRDを用いたセメント材料の評価 -定性分析~リートベルト定量-
セメントの水和反応速度や硬化強度などの特性は、セメントを構成する物質によって変化することが知られています。X線回折装置(XRD)を用いることにより、セメント構成物質を直接的に評価することができるため、本装置は研究開発や品質管理などで広く使用されています。本セミナーでは、定性・定量分析(リートベルト定量)の原理を説明するとともに、セメント材料を用いた解析事例をご紹介いたします。
講師:葛巻 貴大(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:15:00~15:30
質疑応答:15:30~15:45
TA
開催済み
セメントセミナー(熱分析編)
発生ガスおよび試料観察熱分析を用いたセメント分析の紹介
発生ガス分析TG-EGA 装置ThermoMassPhoto(TG-DTA-MS)やTG-DTA-FTIR、ならびに試料観察型STAを用いたセメントへの応用測定とデータの解析について解説いたします。最新の熱分析手法を用いた多角的な分析事例をご紹介いたしますので、ご興味のある方は是非ご視聴ください。
講師:有井 忠(株式会社リガク 熱分析事業部 主幹研究員)
講義:16:00~16:30
質疑応答:16:30~16:45
2020年
06月26日(金)
XRD
開催済み
ソフトウェアアップグレードセミナー
進化した最新ソフトウェアSmartLabStudioIIの紹介
X線回折装置SmartLabやMiniFlexの測定やデータの解析を行う最新ソフトウェアSmartLab Studio IIの機能について紹介いたします。数年前にご購入いただいた装置であれば、お使いのソフトウェアをアップグレードしていただけますので、お気軽にお問合せください。
講師:佐々木 明登(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
TA
開催済み
発生ガス分析セミナー
TG-MS、TG-FTIRの基礎と応用
TG-MS、TG-FTIRの概要と実際の測定例についてご紹介します。また、発生ガス分析での測定に関する注意点もお話しさせていただきますので、発生ガス分析にご興味のある方やこれから発生ガス分析を始められる方は是非ご視聴ください。
講師:本村 和子(株式会社リガク 熱分析事業部)
講義:15:00~15:30
質疑応答:15:30~15:45
XI
開催済み
X線CTイメージングセミナー
X線CTの各種材料への適用:基礎編
X線CTは試料内部の状態を非破壊で観察することができます。最初にX線CTの基礎を解説し、nano3DX, CTLabの各種材料への適用例についてわかりやすく紹介します。
講師:佐藤 純一(株式会社リガク X線機器事業部 X線イメージング)
講義:16:00~16:30
質疑応答:16:30~16:45
2020年
07月03日(金)
XRF
開催済み
蛍光X線分析セミナー
蛍光X線分析法によるハロゲン分析
様々な試料に含まれるハロゲン元素(臭素,塩素,フッ素)を蛍光X線分析法で分析した事例をご紹介いたします。分析したい品種・濃度・元素に応じて最適な装置をご提案させていただきます。
講師:松田 渉(株式会社リガク X線機器事業部 WDX大阪分析センター)
講義:14:00~14:30
質疑応答:14:30~14:45
XRD
開催済み
最新分析セミナー
これなら使えるXRD定量分析
いまやXRDの分析対象は結晶に限りません。こセミナーでは、 XRDの定量分析法原理と様々な試料の解析例をご説明します。また、当社の特許技術である Direct-Derivation 法(DD 法)についてもご紹介します。
講師:生天目 由紀子(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:15:00~15:30
質疑応答:15:30~15:45
XRD
開催済み
X線応力セミナー
X線回折法による結晶材料の残留応力分析 -金属からセラミックスまで-
材料強度は残留応力と密接に関係しており、例えば、バネ・ギヤ・ベアリングなど耐久性が求められるような機械部品の製造時には意図的に残留応力を付与・制御しています。一方、実製品の長期使用に伴って、割れや反りといった残留応力を原因とした不具合が発生する場合もあります。それゆえ、残留応力の計測は、開発品の品質向上だけでなく、疲労寿命予測や不具合の原因究明などを目的として、製造現場では欠かすことのできない評価項目となっています。本講では、非破壊分析法として広く知られるX線応力測定技術について、最新の測定装置や測定事例を交えながらご紹介致します。
講師:根津 暁充(株式会社リガク X線機器事業部 応用技術センター)
講義:16:00~16:30
質疑応答:16:30~16:45

TOPIQ : Rigaku quick Webinars

2020年
04月30日(木)
XI
開催済み
TOPIQ|X-Ray Computed Tomography For Materials & Life Science 5: Plant Science Applications
講師:Angela Criswell(Rigaku Americas Corporation)
講義:03:00~(JST:日本時間)
2020年
05月01日(金)
SCX
開催済み
TOPIQ|Sample Screening, Strategy Calculation And Data Collection In CrysAlisPro
講師:Pierre Le Magueres
講義:08:00~(JST:日本時間)
2020年
05月15日(金)
SCX
開催済み
TOPIQ|Separating multiple diffraction patterns in CrysAlisPro
講師:Dr. Pierre Le Magueres(Rigaku Americas Corporation)
講義:08:00~(JST:日本時間)
2020年
05月19日(火)
XRD
開催済み
TOPIQ|Thin-film XRD application by SmartLab
講師:Shyjumon Ibrahimkutty
講義:17:00~(JST:日本時間)
2020年
05月20日(水)
SCX
開催済み
TOPIQ|Separating multiple diffraction patterns in CrysAlisPro
講師:Dr. Pierre Le Magueres(Rigaku Americas Corporation)
講義:23:00~(JST:日本時間)
2020年
05月21日(木)
SAXS
開催済み
TOPIQ|Exploring the landscape of macromolecular solutions with SAXS
講師:Angela Criswell(Rigaku Americas Corporation)
講義:03:00~(JST:日本時間)
2020年
06月01日(月)
SCX
開催済み
Rigaku School for Practical Crystallography
講師:Various
講義:23:00~(JST:日本時間)
2020年
06月02日(火)
SCX
開催済み
TOPIQ|Crystalline Sponge Method
講師:Christian Göb
講義:17:00~(JST:日本時間)
2020年
06月11日(木)
XRF
開催済み
TOPIQ|The Advantages of Indirect Excitation EDXRF
講師:
講義:24:00~(JST:日本時間[6/12-0:00])
2020年
06月18日(木)
SCX
開催済み
TOPIQ|How to Set Up Variable Temperature Experiments in CrysAlisPro
講師:Jakub Wojciechowski
講義:17:00~(JST:日本時間)
2020年
06月24日(水)
XRF
開催済み
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
Eine schnelle, einfache Methode zur Bestimmung von Elementkonzentrationen in petrochemischen Proben
講師:Dietmar Denker & Carmen Kaiser-Brügmann
講義:17:00~(JST:日本時間)
2020年
06月25日(木)
SCX
開催済み
TOPIQ|How to Improve Crystal Structure Models by TAAM Refinement
講師:Dr Paulina Dominiak
講義:24:00~(JST:日本時間[6/26-0:00])
2020年
07月06日(月)
    ~  17日(金)
SCX
Rigaku School for Practical Crystallography – Asia Pacific -
A series of 10 one-hour webinar session every day at 8 PM|JST
School Directors:Dr. Paul Swepston and Dr. Joseph Ferrara
講義:20:00~21:00(JST:日本時間)
2020年
07月07日(火)
XRD
開催済み
TOPIQ|Investigating crystalline defects of semiconductors using X-ray Topography
概要:Join this webinar to discover the X-ray Topography methodology, the scientific principles of measurements and the possibilities of the instrumentation. The webinar will focus on applications on different materials and the results, demonstrating how the XRTmicron system is used to get highest quality 2D and 3D topograms of semiconductor material.
講師:Martin Fehrentz
講義:17:00~(JST:日本時間)
2020年
07月16日(木)
XI
X-ray Computed Tomography for Materials and Life Science
Geology Applications
概要:A number of X-ray CT application examples of geological samples will be discussed. Examples include the analysis of cracks, pores, inclusions, and phase quantification of rocks and drill cores. We will introduce available resources for pore network analysis that can be applied to rock CT scans.
講師:Aya Takase(Rigaku Americas Corporation)
講義:03:00~(JST:日本時間)
2020年
07月29日(木)
SCX
TOPIQ|NoSpherA2: Novel Charge Density Tools in Olex2
概要:This session shows how to use NoSpherA2 to perform HAR in Olex2 in real-time and visualize results and properties, including electron localization, surfaces and potentials.
講師:Jakub Wojciechowski
講義:17:00~(JST:日本時間)
2020年
07月29日(木)
SCX
TOPIQ|NoSpherA2: Novel Charge Density Tools in Olex2 (Session2)
概要:This session shows how to use NoSpherA2 to perform HAR in Olex2 in real-time and visualize results and properties, including electron localization, surfaces and potentials.
講師:Jakub Wojciechowski
講義:24:00~(JST:日本時間[7/30-0:00])
2020年
08月04日(火)
    ~  06日(木)
XRD,
XRF,
XI
Rigaku's Virtual Analytical X-ray Convention
概要:Due to the COVID-19 induced cancellations of the Microscopy & MicroAnalysis, Denver X-ray, and American Crystallographic Association physical conferences this summer, Rigaku will be live webcasting a 3-day virtual Analytical X-ray Convention from our laboratory facility in Texas.
講師:
講義:23:00~(JST:日本時間)
2020年
08月12日(水)
    ~ 13日(木)
SCX
Single Crystal Online Users’ Meeting
概要:We would like to invite you to join us for our annual user meetings on 12th and 13th August. Due to travel restrictions currently affecting many countries, we will hold this event via Zoom and it will therefore be available globally.
講師:Fraser White
講義:22:00~(JST:日本時間)
2020年
08月19日(水)
XRF
Best Operating Practices for XRF users including the importance of sample preparation
概要:Quality Control in industry is imperative, this webinar will highlight the XRF best operating practices that will ensure the daily monitoring and compliance of quality control data.
講師:Carmen Kaiser Brügmann & Dr Tanja Butt (Retsch)
講義:16:00~(JST:日本時間)