| 開催日 | 区分 | 受付 | タイトル | 開催言語 |
| 2024年 06月18日（火） | XRD | 受付中 | 東京大学・リガク産学連携室 2024年度Ｘ線解析セミナー～ 粉末Ｘ線回折法の基礎とアプリケーション紹介 ～概要：材料の分析や開発には欠かせない手法の一つであるＸ線回折法の原理および測定・解析例を紹介する。また最新の測定事例として2次元検出器を使用したアプリケーションも併せて解説する。 主催：東京大学・リガク産学連携室／東京大学マテリアル先端リサーチインフラ 講師：根津 暁充（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ） 東山 由樹（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ） ■基礎編講義：13:00～14:30 Ｘ線回折法の原理と測定データに影響を及ぼす要因についての解説と様々な定性分析例の紹介を行う。 ■応用編講義：14:40～16:00 Ｘ線回折法で測定できることを具体的な解析事例(リートベルト解析・残留応力・小角Ｘ線散乱法等)を挙げながら解説する。 参加登録：https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_kqS3y74NSESDwBEl-lY-OA ※zoom社webinar登録画面へ遷移します。姓名欄の合計漢字数が6文字を超えるお名前の場合、恐れ入りますが”ひらがな”の一部使用やローマ字 にてご登録下さい。 定員：500名（無料：事前登録制）
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