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| 開催日 | 区分 | 受付 | タイトル | 開催言語 |
| 2024年 06月18日（火） | SCX | 受付中 | 単結晶Ｘ線構造解析Webinar（入門編）第1回：単結晶構造解析とは概要：結晶Ｘ線構造解析は、結晶内に配列する分子や原子の平均的な三次元構造を明らかにする手法です。本Webinarシリーズでは、単結晶Ｘ線構造解析の経験が少ない初心者の方から、日常的に使用されている中級者の方々に向けて、入門編～基礎編・応用編の講演を全８回（各回50分）実施します。 プレゼンター：清田 祥生（プロダクト本部 アプリケーションラボ）■06月18日（火）10:00～（入門編）：『 第1回：単結晶構造解析とは 』 ・06月18日（火）11:00～（入門編）：『 第2回：単結晶Ｘ線構造解析に必要な設備と手順 』 ・06月20日（木）10:00～（基礎編）：『 第3回：単結晶Ｘ線回折測定の手順 』 ・06月20日（木）11:00～（基礎編）：『 第4回：測定データの処理 』 ・07月02日（火）10:00～（基礎編）：『 第5回：構造解析の手順（１）』 ・07月02日（火）11:00～（基礎編）：『 第6回：構造解析の手順（２）』 ・07月04日（木）10:00～（応用編）：『 第7回：ディスオーダーの対策 』 ・07月04日（木）11:00～（応用編）：『 第8回：ツインの対策 』 本公演はRigaku e-ラーニング SCXコース（有償コンテンツ）に準拠した内容となっております。繰り返し学びたい方は、弊社HPをご参照ください。https://japan.rigaku.com/ja/support/elearn/xrd_jp ※ 本Webinarでは、説明スライドの配布は行いません。ご了承ください。 講義：10:00～10:50 ★ご視聴に際し、ご登録は1週間共通（有効）です。（第5～8回は別途登録必要） 各回のリマインダー送信されますが、ご都合に合わせて必要な回だけをご視聴いただけます。 参加登録：https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_7qsbD_x-R5m7A39gLhOT2A
※zoom社webinar登録画面へ遷移します。姓名欄の合計漢字数が6文字を超えるお名前の場合、恐れ入りますが”ひらがな”の一部使用やローマ字 にてご登録下さい。 | 日本語 |
| 2024年 06月18日（火） | SCX | 受付中 | 単結晶Ｘ線構造解析Webinar（入門編）第2回：単結晶Ｘ線構造解析に必要な設備と手順概要：結晶Ｘ線構造解析は、結晶内に配列する分子や原子の平均的な三次元構造を明らかにする手法です。本Webinarシリーズでは、単結晶Ｘ線構造解析の経験が少ない初心者の方から、日常的に使用されている中級者の方々に向けて、入門編～基礎編・応用編の講演を全８回（各回50分）実施します。 プレゼンター：清田 祥生（プロダクト本部 アプリケーションラボ）・06月18日（火）10:00～（入門編）：『 第1回：単結晶構造解析とは 』 ■06月18日（火）11:00～（入門編）：『 第2回：単結晶Ｘ線構造解析に必要な設備と手順 』 ・06月20日（木）10:00～（基礎編）：『 第3回：単結晶Ｘ線回折測定の手順 』 ・06月20日（木）11:00～（基礎編）：『 第4回：測定データの処理 』 ・07月02日（火）10:00～（基礎編）：『 第5回：構造解析の手順（１）』 ・07月02日（火）11:00～（基礎編）：『 第6回：構造解析の手順（２）』 ・07月04日（木）10:00～（応用編）：『 第7回：ディスオーダーの対策 』 ・07月04日（木）11:00～（応用編）：『 第8回：ツインの対策 』 本公演はRigaku e-ラーニング SCXコース（有償コンテンツ）に準拠した内容となっております。繰り返し学びたい方は、弊社HPをご参照ください。https://japan.rigaku.com/ja/support/elearn/xrd_jp ※ 本Webinarでは、説明スライドの配布は行いません。ご了承ください。 講義：11:00～11:50 ★ご視聴に際し、ご登録は1週間共通（有効）です。（第5～8回は別途登録必要） 各回のリマインダー送信されますが、ご都合に合わせて必要な回だけをご視聴いただけます。 参加登録：https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_7qsbD_x-R5m7A39gLhOT2A
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| 2024年 06月18日（火） | XRD | 受付中 | 東京大学・リガク産学連携室 2024年度Ｘ線解析セミナー～ 粉末Ｘ線回折法の基礎とアプリケーション紹介 ～概要：材料の分析や開発には欠かせない手法の一つであるＸ線回折法の原理および測定・解析例を紹介する。また最新の測定事例として2次元検出器を使用したアプリケーションも併せて解説する。 主催：東京大学・リガク産学連携室／東京大学マテリアル先端リサーチインフラ 講師：根津 暁充（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ） 東山 由樹（株式会社リガク プロダクト本部 アプリケーションラボ） ■基礎編講義：13:00～14:30 Ｘ線回折法の原理と測定データに影響を及ぼす要因についての解説と様々な定性分析例の紹介を行う。 ■応用編講義：14:40～16:00 Ｘ線回折法で測定できることを具体的な解析事例(リートベルト解析・残留応力・小角Ｘ線散乱法等)を挙げながら解説する。 参加登録：https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_kqS3y74NSESDwBEl-lY-OA
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